宽谱段高分辨率低温成像光谱仪制冷系统设计

发布时间：2017-10-08 17:21

  本文关键词：宽谱段高分辨率低温成像光谱仪制冷系统设计

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【摘要】：宽谱段高分辨率低温成像光谱仪可对星际矿物成分、大气成分进行有效识别,但由于深空探测目标温度很低,为了抑制光谱仪自身噪声,提高分辨率,需要红外谱段工作在几十K的低温环境下,这对制冷系统设计提出了严峻的挑战。在调研国外用于金星、彗星探测的可见/红外成像光谱仪(VIRTIS)制冷技术的基础上,对宽谱段高分辨率低温成像光谱仪制冷系统进行了设计与仿真分析,仿真结果显示M和H探测器部件温度梯度非常小,约为4×10-2 K;探测器工作温度≤70 K;M和H部件壳体温度为130±1 K;框架温度为200±1 K,符合制冷系统设计要求。研究成果对在深空探测领域具有通用性的低温高光谱成像系统中制冷系统的研制具有一定的指导意义。
【作者单位】： 北京空间机电研究所;
【关键词】： 成像光谱仪 宽谱段 高分辨率 制冷系统
【分类号】：V447
【正文快照】： 0引言在深空探测中,为了提高对星际矿物成分、大气成分的识别能力,需要光谱仪具备宽谱段探测和高光谱分辨率成像能力,如金星探测器(Venus Express)和彗星探测器(Rosetta)上搭载的可见/红外成像光谱仪(VIRTIS),工作谱段为0.25~5.03μm,光谱分辨率分别为2 nm(0.25~1.0μm)、10 n

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本文编号：995321