钴及钴基合金氮化物的制备及其电化学析氢性能研究
【学位授予单位】:中南林业科技大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2018
【分类号】:O643.36;TQ116.2
【图文】:
C04N邋NS.邋(e)邋Low邋resolution邋TEM邋image邋and邋(f)邋HRTEM邋image邋of邋V-C04N邋NS.邋(g)逡逑HAADF-STEM邋image邋and邋the邋element邋mapping邋images邋of邋Co,邋V,邋and邋N.逡逑如图2.丨3所示,本文通过两步法制备NB掺杂(:04^以-(:04>])纳米片阵逡逑列。首先,通过水热法在泡沫镍基底上原位生长V掺杂Co(OH)2纳米线阵逡逑列|65]。并将所获得的前驱体纳米线阵列在氨气氛围卜>邋锻烧
dopant邋ratio邋of邋2%邋and邋10%邋(V-C04N-0.1),邋respectively.逡逑扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)以及X射线衍射仪(XRD)用于表征逡逑所制备样品的形貌和结构信息。图2.1邋b和2.2邋a-c给出了不同掺杂比例下逡逑V-Co(OH)2纳米线阵列的SEM图,可以观察到纳米线阵列稠密且均匀地生逡逑长在泡沫镍上。图2.1邋c和2.2邋d-f给出了氮化后样品的SEM图。有趣的是,逡逑氮化后的样品在光滑的前驱体纳米线表面上原位生长了纳米片。V-CmN逡逑的TEM图(图2.1邋e)进一步揭示纳米片在纳米线的表面原位生长从而形逡逑成三维多孔结构。需要指出的是,这种原位生长于纳米线上的纳米片将逡逑促进活性位点的暴露。对比不同比例下的V-C04N,发现V将促进纳米片逡逑的生长。XRD用于表征不同掺杂比例的V-C04N和纯CcmN纳米片的晶体结逡逑构(图Id和3a)。观察到Co4N的衍射峰位于44.2,邋51.5和75.9,分别对应逡逑于立方C04N的(1]])、(200)和(220)晶面。不同比例的V掺杂后没有观察到逡逑新的衍射峰,这说明V掺杂不改变C04N的晶体结构。V-C04N纳米片的高逡逑分辨TEM图用于进一步观察晶体结构。如图2.1邋f所示,V-C04N纳米片的逡逑18
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本文编号:2721881
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