基于超声杂波抑制的缺陷检测

发布时间：2018-03-31 07:08

  本文选题：超声衍射时差法　切入点：杂波抑制　出处：《焊接学报》2015年10期

【摘要】：超声TOFD(time of flight diffraction,衍射时差)法检测的D扫描图像中,作为背景杂波的侧向波与近表面缺陷波会发生混叠,致使近表面缺陷不易于检测.针对这一问题,提出一种基于杂波抑制的缺陷检测方法.该方法通过图像能量分布统计,确定背景杂波分量并予以去除,从而分离出与其混叠的缺陷信号,实现近表面缺陷的检测.建立了的超声TOFD法检测信号的数学模型,阐明了基于图像能量分布的杂波抑制原理.制作了人工缺陷试块及实际焊缝试块,并对其检测获取的图像进行了杂波抑制处理.结果表明,提出的方法可有效去除图像中的非缺陷目标、提取近表面缺陷波,从而提高系统的有效检测范围.
[Abstract]:In the D-scan images detected by TOFD(time of flight diffraction, the lateral wave and the near-surface defect wave, which are background clutter, will be overlapped, which makes the near-surface defect difficult to detect. A defect detection method based on clutter suppression is proposed. The background clutter component is determined and removed by image energy distribution statistics, so that the aliasing defect signal can be separated. The mathematical model of ultrasonic TOFD method for signal detection is established, and the principle of clutter suppression based on image energy distribution is expounded. The results show that the proposed method can effectively remove the non-defect target in the image and extract the near-surface defect wave, so as to improve the effective detection range of the system.
【作者单位】： 哈尔滨工业大学先进焊接与连接国家重点实验室;
【基金】：国家自然科学基金资助项目(51375002,51005056) 黑龙江省博士后科研启动基金资助项目(LBH-Q13079)
【分类号】：TG115.285

【参考文献】

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【共引文献】

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【二级参考文献】

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本文编号：1689678