聚焦离子束加工单晶金刚石的亚表层损伤研究
[Abstract]:In order to ensure the surface performance and service life of micro parts or microcutters fabricated by focused ion beam (FIB), the subsurface damage of single crystal diamond superhard materials fabricated by FIB technology was studied. The formation principle of subsurface damage in FIB machining is analyzed from the point of view of particle collision and energy exchange. The ion bombardment process of single crystal diamond machined by FIB is simulated by SRIM software, and the cross section radius of FIB subsurface damage region is determined. And the depth of subsurface damage. The results show that the sub-surface damage section radius and damage depth of diamond target fabricated by FIB are less than 2% and 1%, respectively.
【作者单位】: 燕山大学机械工程学院;燕山大学车辆工程与能源学院;
【分类号】:TG669;TQ163
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,本文编号:2473558
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