三维类摆线抛光轨迹的参数控制与工艺优化
【学位授予单位】:华南理工大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2018
【分类号】:TG580.692
【图文】:
图 2-1 抛光盘应力应变曲线a) 平面抛光示意图 b) 抛光仿真接触区图 2-2 平面抛光示意图与仿真结果以近似的看作是由线段 AB 与抛光盘的边缘ACB组成域的宽度,线段 CD 的长为接触区域的长度 Ls。由于抛 约等于长度 Ls。在仿真结果中读取垂直平面的抛光力以结果如表 2-1 所示,接触区域的宽度 W 的理论值为: 22t tW =2 R R L 刚性层盘 平面LA CDLsW
图 5-1 自由曲面工件模型的工艺参数灵敏度分析前期实验的基础,对接触区域长度 L、进给速步距 Stro共 5 个试验因素分别设置 3 个试验水 所示的 L9(35)正交试验表。在前文提到的机80、320、600、800、1000 目砂纸,每种砂纸ol 抛光膏抛光 2 次。表 5-1 正交试验各因素水平长度)进给速度vf(mm/s) 倾角θ(°)摆线步Stro(mm50 6 10 100 8 15 200 10 20 表 5-2 L9(35)正交试验表设计
【参考文献】
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本文编号:2791851
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