SiO 2 涂层提高PEI绝缘材料耐原子氧剥蚀能力的验证

发布时间：2024-12-18 01:18

　　 目的验证SiO₂涂层对PEI绝缘材料耐原子氧剥蚀能力的提升效果。方法以某航天器舱外用电连接器PEI绝缘材料为研究对象,将全氢聚硅氮烷（PHPS）作为涂层材料,利用底涂浸涂、面涂喷涂的KH-AORX湿化学法镀膜工艺,把PHPS直接转化为二氧化硅（SiO₂）无机防护涂层。基于型号在轨15年的工作寿命要求,开展5年原子氧总通量为2.61×10²⁶ atoms/m²、原子氧通量率为6.5×10¹⁵ atoms/（cm²·s）的试验验证,分析试验前后的材料质量损失率、原子氧剥蚀率和外观形貌的变化。结果采用的KH-AORX湿化学法镀膜工艺可实现将PHPS涂层材料作用于PEI绝缘材料并直接转换为SiO₂保护涂层。涂层边缘厚度及中心厚度具有较好的一致性,涂层硬度及附着力满足设计指标要求。已涂覆SiO₂的PEI绝缘体经历5年通量的原子氧剥蚀后,质量损失率为0.05%,拟合计算后,经历15年通量的原子氧剥蚀后的质量损失率为0.29%...

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本文编号：4016821