基于BCH算法的高速缓存纠检错方案研究

发布时间：2017-12-15 07:11

  本文关键词：基于BCH算法的高速缓存纠检错方案研究

  更多相关文章： BCH码 单粒子效应 并行 高速缓存 检错

【摘要】：针对抗辐射微处理器的容错需求,特别是在高速缓存中由单粒子效应造成的多位翻转故障,设计了一种高速缓存纠检错方案,以LEON2处理器为研究平台,分别对指令Cache和数据Cache的标记存储器和数据存储器设计并行的BCH编码器和译码器,实现多达4位错误的检测.针对检测到的多位错误,利用存储层次特征,实现对故障的有效规避.以LEON2处理器为研究平台的仿真结果证明,该方案能够有效应对高速缓存中单粒子效应所引发的多位错误,并且方案的资源开销和性能开销都比较小,为未来纳米级微处理器的容错设计提供了支撑.
【作者单位】： 首都师范大学信息工程学院;唐山现代工控技术有限公司;北京成像技术高精尖创新中心;电子系统可靠性技术北京市重点实验室;
【基金】：国家自然科学基金项目(61472260,61402302,61502321) 北京市属高等学校创新团队建设与教师职业发展计划项目(IDHT20150507)
【分类号】：TP333;TP332
【正文快照】： 1引言单粒子效应[1]是空间应用发生故障和工作异常的重要诱因之一.随着半导体器件特征尺寸的减小、工作频率的上升和节点电压的降低,单个粒子引起的故障表现形式更为复杂,由此引发的多位翻转(Multiple Bit Upset,MBU)通常会导致2-4位错误[2],最多8位随机翻转错误.可见MBU比起S

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本文编号：1291044