SRAM型FPGA的SEU故障注入系统设计

发布时间：2018-02-21 15:39

  本文关键词： FPGA SEU 故障注入 部分重构 ICAP　出处：《微电子学与计算机》2014年03期 　论文类型：期刊论文

【摘要】：在研究SRAM型FPGA配置存储器物理结构及配置结构的基础上,发现对FPGA配置文件中的帧数据进行0/1翻转可以实现配置存储器的人为翻转,从而来仿真FPGA的SEU效应.基于部分重构技术设计了一种针对SRAM型FPGA的SEU故障注入系统,通过ICAP来实现部分重构,不需要额外的硬件开销.故障注入系统在XUP XC2VP30开发板上实现,通过对三个FPGA典型设计进行SEU敏感性分析,验证了所设计系统的有效性,并验证了三模冗余的加固效果.
[Abstract]:On the basis of studying the physical structure and configuration structure of SRAM type FPGA configuration memory, it is found that the configuration memory can be manually flipped by 0/1 flipping the frame data in the FPGA configuration file. Based on the partial reconfiguration technology, a SEU fault injection system for SRAM type FPGA is designed, which realizes partial reconfiguration through ICAP without additional hardware overhead. The fault injection system is implemented on the XUP XC2VP30 development board. Through the SEU sensitivity analysis of three typical FPGA designs, the effectiveness of the designed system is verified, and the reinforcement effect of the three-mode redundancy is verified.
【作者单位】： 哈尔滨工业大学微电子中心;
【分类号】：TP333;TN791

【参考文献】

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【二级参考文献】

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