微处理器高低速模式下的单粒子功能错误分析

发布时间：2018-03-02 10:10

  本文关键词： 单粒子效应 微处理器 单粒子功能错误 单粒子翻转　出处：《微电子学与计算机》2014年07期 　论文类型：期刊论文

【摘要】：对一款国产抗辐射加固SPARC-V8微处理器进行了高低速两种模式下的单粒子试验.试验获得了单粒子功能中断的阈值和饱和错误截面,并预估了GEO轨道在轨错误率.经过比较分析,国产微处理器与国外同类产品具有相同量级的抗单粒子指标,微处理器在开CACHE的高速模式下抗单粒子能力优于低速模式约2倍.
[Abstract]:In this paper, a single particle test of a home-made radiation-resistant SPARC-V8 microprocessor is carried out in two modes: high and low speed. The threshold of single particle function interruption and saturation error cross section are obtained, and the error rate of GEO orbit is estimated. The domestic microprocessors have the same order of magnitude anti-single particle index as the foreign products. The anti-single particle capability of the microprocessors in the high speed mode of open CACHE is about 2 times better than that in the low speed mode.
【作者单位】： 北京微电子技术研究所;
【分类号】：TP332

【参考文献】

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【共引文献】

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本文编号：1556083