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用于8051单片机片上调试系统的硬件设计

发布时间:2018-04-15 07:39

  本文选题:片上调试系统 + 微控制器 ; 参考:《华中科技大学》2012年硕士论文


【摘要】:随着电子产品和工业控制的复杂性日益增加,使得基于单片机的软硬件开发难度越来越大,在开发中使用一套完备的实时调试系统则显得非常重要。本课题采用专用数字集成电路的设计流程为工业上广泛应用的8051微控制器设计了一个片上调试系统,将调试功能集成到单片机芯片内部。文章内容包括需求调研,方案设计,设计实现,功能仿真与验证以及后端设计。 本文设计的片上调试系统具备提供整个微控制器实时调试的能力,拥有商业仿真的一切功能。它不仅具有控制8051单片机挂起、正常运行、单步运行和指令跳转的能力,而且能够读写片内寄存器、内外部数据,程序存储器、特殊功能寄存器的值。它可以在程序存储器、内外部数据存储器和特殊功能寄存器上设置硬件断点,当微控制器在特定的地址读写特定的数据时,硬件断点即被触发。该调试系统使用比工业上的JTAG标准接口占用空间更少的三线接口作为其和计算机的连接通道。文章运用Verilog HDL硬件描述语言对整个片上调试系统进行了设计,,使用Mentor公司的ModelSim仿真工具对每个功能进行了详细的仿真,利用synopsys公司的DesignCompile、Primetime、Astro和SMIC0.18μm工艺库完成了综合,静态时序分析和版图设计并确保时序闭合。系统在Xilinx的Spartan3系列FPGAxc3s400上完成功能验证。 结果表明,系统有效解决基于传统软件仿真,仿真器调试和JTAG调试方式的弊端,减少用户调试成本,提高调试效率。调试系统的引入对原8051单片机的性能没有产生影响。本文提出的设计方法同样适用于其他单片机片上调试系统的设计。
[Abstract]:With the increasing complexity of electronic products and industrial control , it is very important to develop a complete real - time debugging system based on single - chip microcomputer .

This paper designs an on - chip debug system that provides the ability to debug the whole microcontroller in real time . It has the capability of controlling 8051 single - chip microcomputer to suspend , normal operation , single - step operation and instruction jump . It can read and write the value of internal registers , internal and external data , program memory and special function register . It can read and write specific data in program memory , internal and external data , program memory and special function register .

The results show that the system effectively solves the disadvantages of traditional software simulation , emulator debugging and JTAG debug mode , reduces user debugging cost and improves debugging efficiency . The introduction of debugging system has no influence on the performance of the original 8051 single - chip microcomputer . The design method proposed in this paper is also applicable to the design of debugging system on other single chip microcomputer .

【学位授予单位】:华中科技大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2012
【分类号】:TN407;TP368.1

【参考文献】

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本文编号:1753169

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