嵌入式存储器容错方案可靠性评估

发布时间：2018-04-19 08:50

  本文选题：可靠性评估 + 容错技术　； 参考：《微电子学》2015年02期

【摘要】：随着工艺节点的不断降低,存储器的软错误率呈指数趋势上升,容错技术已成为存储器设计中的重要环节。依据美国NASA Rosetta实验数据,对错误检纠错码(EDAC:Error Detection and Correction)和不同的在线刷新模式组成的多种容错方案进行可靠性建模与量化评估,提出了不同工艺节点下嵌入式存储器容错技术选择的判据方法。在地面单粒子模拟实验中进行验证,结果表明,该方法预测的失效率评估结果与实验测试结果的平均偏差约为10.3%。
[Abstract]:With the decrease of process nodes, the soft error rate of memory increases exponentially, and fault-tolerant technology has become an important part of memory design.Based on the experimental data of NASA Rosetta in the United States, the reliability modeling and quantitative evaluation of several fault-tolerant schemes composed of error detection and error Detection and correction (EDAC: error Detection Correction) and different online refresh modes are carried out.A criterion method for fault tolerance selection of embedded memory under different process nodes is presented.The experimental results show that the average deviation between the predicted failure rate and the experimental results is about 10.3.
【作者单位】： 中国科学院电子学研究所;中国科学院大学;
【基金】：国家自然科学基金资助项目(61204045,61271149) 中国科学院、国家外国专家局创新团队国际合作伙伴计划资助课题(2013ZX03006004)
【分类号】：TP333

【参考文献】

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【共引文献】

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【二级参考文献】

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本文编号：1772407