当前位置:主页 > 科技论文 > 计算机论文 >

基于LXI总线架构的自动化IC测试系统软件设计

发布时间:2018-05-10 08:51

  本文选题:LXI + 嵌入式系统 ; 参考:《北京交通大学》2012年硕士论文


【摘要】:近年来,随着电子产业的蓬勃发展,嵌入式系统被应用到越来越多的领域,市场需求日益扩大。嵌入式系统可以被定义为“以应用为中心、以计算机技术为基础、软件硬件可裁剪、适应应用系统对功能、可靠性、成本、体积、功耗严格要求的专用计算机系统”。嵌入式系统是面向应用的,它必须与具体应用相结合才会具有生命力。将先进的网络技术与嵌入式系统相结合,应用到IC测试系统中,必然会显著的提高系统远程控制能力,简化系统总线结构。使测试系统的功能、应用范围得到极大的扩展。 总线是一组信号线的集合,是系统中各功能部件间进行信息传输的公共通道。在测试系统中,总线发挥重要的作用。LXI总线标准将以太网标准、接口标准、触发标准、物理标准和网络标准整合在一起,满足了测试系统对系统建立时间、系统尺寸、传输能力、通用性等方面更高的要求,是继GPIB. VXI、PXI之后全新一代的总线标准。 本课题致力于开发基于LXI总线的自动化IC测试系统,目标是开发出低成本、低能耗、高性能、配置简便灵活,基于工业以太网的解决方案。 本文测试系统的设计严格遵循LXI总线C类标准,经过分析比较国内外测试技术的发展趋势和特点,确立以业内成熟的分布式系统,实现方式采用“上位机+下位机”的模型。在此基础上,本文着重进行了以下的几方面工作: 1.根据嵌入式硬件资源移植嵌入式实时操作系统μC/OS-II,并根据功能要求对μC/OS-II操作系统进行适当的剪裁。 2.开发了网络传输功能模块,在μC/OS-II操作系统上建立TCP/IP协议栈,达到了LXI C类标准的要求。 3.开发了嵌入式应用软件,包括网络套接字程序和各测试模块的控制程序。 4.开发了远程计算机中的网络虚拟仪器界面,满足了远程控制测试系统的要求。 实验结果表明,基于LXI总线的自动化IC测试系统实现了模拟、数字数据的实时采集,并能通过LXI总线工业以太网准确、实时的将数据发送到计算机。相比传统测试总线在传输速度、系统容量和成本等方面有极大提升,系统灵活的拓扑结构和丰富的扩展接口为未来实现大规模网络化测试系统提供了可能。 文中共有图16幅,表10个,参考文献32篇。
[Abstract]:In recent years, with the rapid development of electronic industry, embedded system has been applied to more and more fields, and the market demand is expanding day by day. Embedded systems can be defined as "application-centric, computer technology-based, software and hardware can be tailored to the application system to function, reliability, cost, volume, power consumption strict requirements of the dedicated computer system." Embedded system is application-oriented, it must be combined with specific applications to have vitality. The application of advanced network technology and embedded system to IC test system will improve the remote control ability of the system and simplify the system bus structure. The function and application range of the test system are greatly expanded. Bus is a collection of signal lines and a common channel for information transmission between functional components of the system. In the test system, bus plays an important role. LXI bus standard integrates Ethernet standard, interface standard, trigger standard, physical standard and network standard. Transmission capacity, versatility and other aspects of the higher requirements, is a GPIBB. VXI PXI after the new generation of bus standards. This paper is devoted to the development of an automatic IC test system based on LXI bus. The goal is to develop a solution based on industrial Ethernet with low cost, low energy consumption, high performance, simple and flexible configuration. The design of the test system in this paper strictly conforms to the class C standard of LXI bus. After analyzing and comparing the development trend and characteristics of the test technology at home and abroad, the model of "upper computer and lower computer" is established with the mature distributed system in the industry. On this basis, this paper focuses on the following aspects of work: 1. According to the embedded hardware resources, the embedded real-time operating system 渭 C / OS-IIs is transplanted, and the 渭 C/OS-II operating system is tailored according to the functional requirements. 2. The function module of network transmission is developed, and the TCP/IP protocol stack is built on 渭 C/OS-II operating system, which meets the requirements of LXI C standard. 3. The embedded application software is developed, including the network socket program and the control program of each test module. 4. The network virtual instrument interface in remote computer is developed to meet the requirements of remote control test system. The experimental results show that the automatic IC test system based on LXI bus can realize the real-time acquisition of analog and digital data, and can send the data to the computer in real time through the LXI bus industrial Ethernet. Compared with the traditional test bus, the transmission speed, system capacity and cost are greatly improved. The flexible topology of the system and the rich extended interface make it possible to realize the large-scale networked test system in the future. There are 16 pictures, 10 tables and 32 references.
【学位授予单位】:北京交通大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2012
【分类号】:TP368.1;TN407

【参考文献】

相关期刊论文 前10条

1 许伟达;;IC测试原理[J];半导体技术;2006年04期

2 许伟达;;IC测试原理-存储器和逻辑芯片的测试[J];半导体技术;2006年05期

3 许伟达;;IC测试原理-芯片测试原理[J];半导体技术;2006年07期

4 同江;蔡远文;;LXI总线仪器接口设计方法[J];兵工自动化;2010年09期

5 高瞻;;基于ARM9的数据采集与传送系统设计[J];成都大学学报(自然科学版);2010年04期

6 王琳;黄翔;王学伟;;基于LXI总线的远程测试系统的设计与实现[J];电测与仪表;2010年05期

7 张维;;基于LabVIEW的PC机与Cortex-M3微处理器的以太网通信[J];电脑知识与技术;2010年03期

8 李鸣;高娜;江义东;;LXI总线标准规范关键技术研究[J];电子测量技术;2010年08期

9 李万领;周伟;武建辉;;基于LXI总线的网络化自动测试系统方案设计[J];国外电子测量技术;2006年11期

10 刘大成;马飞;黄引;;基于MCP41100的数控电源设计[J];国外电子元器件;2007年12期

相关硕士学位论文 前7条

1 聂尔根;具有以太网接入功能的嵌入式系统的应用研究[D];江南大学;2007年

2 宋伟文;基于嵌入式系统的以太网接口设计[D];浙江工业大学;2007年

3 宋志坚;基于LXI的高性能数据采集系统的软件设计与实现[D];西南交通大学;2008年

4 张宝;用于LXI仪器的多功能仪器模块的研究与实现[D];西安电子科技大学;2009年

5 沈雪亮;LXI多功能仪器嵌入式应用软件系统的研究与实现[D];西安电子科技大学;2009年

6 汪鹏利;LXI逻辑分析仪模块硬件设计[D];电子科技大学;2009年

7 隋晓锋;通用测试台的数字量输入模块设计[D];中北大学;2009年



本文编号:1868651

资料下载
论文发表

本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/jisuanjikexuelunwen/1868651.html


Copyright(c)文论论文网All Rights Reserved | 网站地图 |

版权申明:资料由用户f2070***提供,本站仅收录摘要或目录,作者需要删除请E-mail邮箱bigeng88@qq.com