片上存储器单粒子翻转效应诊断及修复
本文选题:Zynq- + 片上存储器 ; 参考:《核电子学与探测技术》2017年02期
【摘要】:研究了Zynq-7000片上存储器(OCM)的单粒子翻转效应(SEU),进行了SEU的诊断设计,可以及时诊断出OCM中发生SEU的具体位置以及具体数据位,能够实现对发生于OCM中的单位翻转和多位翻转诊断;进行了SEU修复的设计,可以准确地修复OCM中发生的SEU。能够利用较少的空间资源占用和运行时间实现OCM中SEU百分之百的诊断和修复。
[Abstract]:The single particle flip effect (SEU) of Zynq-7000 on-chip memory (OCM) is studied, and the diagnosis design of SEU is carried out. The location and data bit of SEU in OCM can be diagnosed in time, and the unit flipping and multi-bit flipping in OCM can be realized. The design of SEU repair is carried out, which can accurately repair the SEUU in OCM. SEU diagnosis and repair in OCM can be achieved by using less space resources and running time.
【作者单位】: 西安交通大学;
【基金】:国家自然科学基金资助项目(11575138)
【分类号】:TP333
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,本文编号:2094768
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