高性能柔性铁电型有机晶体管存储器的研究
[Abstract]:The information industry is the pillar industry of the national economy development of our country, among which, the nonvolatile storage is the core part of the industry. Ferroelectric Organic Transistor (FE-OFET-NVM) has the advantages of non-destructive reading, long-term data storage, fast response, flexible flexure, simple process, low cost, etc., in portable flash storage, integrated circuit, product label, etc. Internet of things, flexible display and other fields have a wide range of applications, it is expected to become the next generation of new memory. Ferroelectric polymer PVDF and P (VDF-Tr FE) are the most commonly used gate dielectric layer materials for FE-OFET-NVM. In recent years, researchers have made great progress in the performance of F E-OFET-NVM based on PVDF or P (VDF-TrFE) by developing high performance organic semiconductors and optimizing thin film technology. However, there are still two key problems that limit the application of this kind of devices in industrialization, that is, high operating voltage (卤20 ~ 卤80 V) and generally low field effect mobility (10-4 ~ 10-1 cm2/Vs). In this paper, we mainly focus on the above two key problems of FE-OFET-NVM: (1) first, we study the ferroelectric effect of a new ferroelectric polymer P (VDF-Tr FE-CTFE). The results show that it has high remanent polarization and low coercive electric field (13.6 mC/m2 and 14.8MV / m) respectively. (2) in the second place, FE-OFET-NVM based on Pentacene is constructed by using P (VDF-TrFE-CTFE) as the gate dielectric layer, and the ferroelectric storage hysteresis behavior is observed. The working voltage is only 卤15 V, and the mobility is 10-4 渭 m ~ (-3) cm ~ (2 / V); (2) third, the surface properties of P (V DF-TrFE-CTFE are improved by UVO treatment, and the growth stacking mode and crystallization quality of Pentacene are improved, thus effectively increasing the mobility of FE-OFET-NVM, up to 0.8 cm ~ (2) / V _ (s); (4) fourth, We use ultra-thin AlOx as the passivation layer between P (VDF-TrFE-CTFE) / Pentacene, and further improve the mobility of the device, up to 9.3 cm ~ 2 / V _ s, which refreshes the highest mobility reported so far. (5) Fifth, By scaling the thickness of the gate dielectric layer and optimizing the device structure, the working voltage of FE-OFET-NVM is further reduced to 卤4 V, which refreshes the reported minimum operating voltage. (6) finally, We have successfully fabricated flexible FE-OFET-NV Ms with high mobility and low voltage working on flexible substrates. In addition, the memory has shown excellent performance in many aspects, such as repeated erasing, data storage and memory ability, flexible mechanical durability, etc.
【学位授予单位】:吉林大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2017
【分类号】:TP333
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,本文编号:2188027
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