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铁电存储单元单粒子效应的仿真与研究

发布时间:2018-09-07 16:04
【摘要】:运用电路仿真研究了单粒子瞬态脉冲效应对铁电存储单元存储特性的影响。结合单粒子对MOS器件的影响,用电流模拟单粒子对存储单元的影响且进行仿真分析。仿真结果表明脉冲电流峰值越高,时间越长,铁电存储单元越容易翻转。经分析得出了铁电电容翻转是由瞬态电流脉冲产生的单位面积电荷量决定,最后解释了翻转的原因。
[Abstract]:The effect of single particle transient pulse effect on the memory characteristics of ferroelectric memory cell is studied by circuit simulation. Combined with the effect of single particle on MOS device, the effect of single particle on memory cell is simulated and analyzed with current. The simulation results show that the higher the pulse current peak and the longer the time, the easier to flip the ferroelectric memory cell. It is concluded that the flipping of ferroelectric capacitance is determined by the charge per unit area generated by the transient current pulse, and the reason of the flip is explained at last.
【作者单位】: 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室;
【分类号】:TP333

【共引文献】

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本文编号:2228737

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