基于JTAG标准的通用交叉调试代理的设计和实现
发布时间：2020-07-03 13:00
【摘要】： 交叉调试代理是嵌入式交叉调试系统的重要组成部分,也是使用最为普遍的一种调试方式。但无论是调试桩程序、调试服务器还是ROM Monitor、Rom Emulator这样一些交叉调试代理,它们最大的缺点是占用目标系统的资源,消耗处理器时间,造成应用程序的最终运行环境和调试环境有差异;且影响被调试程序的运行。ICE通过替代目标机处理器的方式来调试程序,能消除这一影响;但针对专门的处理器定制的ICE价格非常昂贵,使得开发成本非常高。基于片上调试技术的在线仿真器大大降低了成本,但通用性仍然不够强。因此,对基于片上调试技术的通用在线仿真器的研究仍然是一种较前沿的工作。国外的通用在线仿真器产品虽然技术较为成熟,并且稳定可靠,但价格仍然相当昂贵,而限于资金投入和市场的原因,国内很少有通用在线仿真器的研究成果。 本文在分析调试代理技术、片上调试技术和基于片上调试技术的通用在线仿真器产品的基础上,借鉴通用在线仿真器的仿真调试方法,利用片上调试技术,将调试代理从目标系统中独立出来,以弥补调试代理本身的缺陷。方案中选择了目前大多数嵌入式处理器芯片都支持的JTAG标准,采用具有良好发展趋势的SOPC技术,设计了一种通用调试代理结构模型。该模型已以ARM7TDMI为目标处理器完成了验证实现过程。 文中所研制的调试代理具有设置断点、单步运行、连续运行、读写寄存器、读写内存等基本仿真功能。对不同的目标处理器,只需要更改目标处理器相关部分的程序代码,而保持硬件本身以及JTAG标准实现部分代码不变,理论上可以调试任意的支持JTAG标准的目标处理器。 本文所设计的调试代理具有两大特色,特色一:调试代理利用片上调试技术从目标系统中独立出来,具有独立性,避免了对目标机的影响;特色二:调试代理的通用性。它体现在两点上:一是利用SOPC技术,软硬件设计相结合来实现整个系统,使得本设计模型具有通用性;二是此调试代理可以调试所有支持JTAG标准的处理器。
【学位授予单位】：电子科技大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2007
【分类号】：TP368.12;TP391.9
【图文】：
图 2-1 JTAG 边界扫描单元在正常工作状态，边界测试单元的工作流程是：输入的数据从 NDI 经输入端SC 直接发往应用逻辑，然后经过应用逻辑处理后的结果送往输出端 BSC，经 NDO 输出结果。在测试状态，可以选择数据流动的通道：对于输入的 I成电路，Integrated Circuit）管脚，可以选择从 NDI 或从 TDI 输入数据；对出的 IC 管脚，可以选择从 BSC 输出数据至 NDO，也可以选择从 BSC 输出至 TDO。图 2-2 是边界扫描测试应用的示意图。为了测试两个 JTAG 设备的连接，首 JTAG 设备 1 某个输出测试脚的 BSC 置为高或低电平，输出至 TDO，然后TAG 设备 2 的输入测试脚来捕获从管脚输入的 TDI 值，再通过测试数据通道获到的数据输出至 TDO，对比测试结果，即可快速准确的判断这两脚是否连靠。
图 2-1 JTAG 边界扫描单元在正常工作状态，边界测试单元的工作流程是：输入的数据从 NDI 经输入端的 BSC 直接发往应用逻辑，然后经过应用逻辑处理后的结果送往输出端 BSC，直接经 NDO 输出结果。在测试状态，可以选择数据流动的通道：对于输入的 I（集成电路，Integrated Circuit）管脚，可以选择从 NDI 或从 TDI 输入数据；对于输出的 IC 管脚，可以选择从 BSC 输出数据至 NDO，也可以选择从 BSC 输出数据至 TDO。图 2-2 是边界扫描测试应用的示意图。为了测试两个 JTAG 设备的连接，首先将 JTAG 设备 1 某个输出测试脚的 BSC 置为高或低电平，输出至 TDO，然后让 JTAG 设备 2 的输入测试脚来捕获从管脚输入的 TDI 值，再通过测试数据通道将捕获到的数据输出至 TDO，对比测试结果，即可快速准确的判断这两脚是否连接可靠。
本文编号：2739694
【学位授予单位】：电子科技大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2007
【分类号】：TP368.12;TP391.9
【图文】：
图 2-1 JTAG 边界扫描单元在正常工作状态，边界测试单元的工作流程是：输入的数据从 NDI 经输入端SC 直接发往应用逻辑，然后经过应用逻辑处理后的结果送往输出端 BSC，经 NDO 输出结果。在测试状态，可以选择数据流动的通道：对于输入的 I成电路，Integrated Circuit）管脚，可以选择从 NDI 或从 TDI 输入数据；对出的 IC 管脚，可以选择从 BSC 输出数据至 NDO，也可以选择从 BSC 输出至 TDO。图 2-2 是边界扫描测试应用的示意图。为了测试两个 JTAG 设备的连接，首 JTAG 设备 1 某个输出测试脚的 BSC 置为高或低电平，输出至 TDO，然后TAG 设备 2 的输入测试脚来捕获从管脚输入的 TDI 值，再通过测试数据通道获到的数据输出至 TDO，对比测试结果，即可快速准确的判断这两脚是否连靠。
图 2-1 JTAG 边界扫描单元在正常工作状态，边界测试单元的工作流程是：输入的数据从 NDI 经输入端的 BSC 直接发往应用逻辑，然后经过应用逻辑处理后的结果送往输出端 BSC，直接经 NDO 输出结果。在测试状态，可以选择数据流动的通道：对于输入的 I（集成电路，Integrated Circuit）管脚，可以选择从 NDI 或从 TDI 输入数据；对于输出的 IC 管脚，可以选择从 BSC 输出数据至 NDO，也可以选择从 BSC 输出数据至 TDO。图 2-2 是边界扫描测试应用的示意图。为了测试两个 JTAG 设备的连接，首先将 JTAG 设备 1 某个输出测试脚的 BSC 置为高或低电平，输出至 TDO，然后让 JTAG 设备 2 的输入测试脚来捕获从管脚输入的 TDI 值，再通过测试数据通道将捕获到的数据输出至 TDO，对比测试结果，即可快速准确的判断这两脚是否连接可靠。
【引证文献】
相关硕士学位论文 前1条
1 韩东甫;支持多种连接方式的远程调试器的设计与实现[D];电子科技大学;2011年
本文编号：2739694
本文链接：https://www.wllwen.com/kejilunwen/jisuanjikexuelunwen/2739694.html
