基于BIST的嵌入式存储器可测性设计算法研究

发布时间：2020-08-24 08:37

【摘要】： 随着超大规模集成电路(VLSI)技术的不断成熟，芯片的集成度正按照摩尔定律的速度持续提高，芯片的测试问题已成为制约整个行业发展的瓶颈。在当前芯片的设计中，嵌入式存储器所占的比重越来越大，因此对嵌入式存储器的测试和诊断也显得越来越重要。目前，从故障类型、测试设备及测试成本等方面考虑，用内建自测试(BIST)技术对嵌入式存储器进行测试是普遍采用的方法。 本文从研究系统芯片的可测试性设计理论出发，对可测性设计中的内建自测试方法作了更为深入的研究，并对该领域的研究情况进行了介绍。在此基础之上，本文分析了嵌入式存储器内建自测试技术的相关理论和方法，包括其故障模型与测试算法，重点剖析了March测试算法，并在已有算法的基础上设计出了一种改进型的March测试算法——March-TBA。该算法通过增加六步读(写)操作，不但覆盖了更多的测试过程中可区分的故障类型，增强了故障诊断能力，而且减少了测试所需要的时间。最后，利用ModelSim仿真软件进行实验仿真，将得出的实验数据与已有算法的实验数据进行对比分析，结果表明改进后的算法的故障覆盖率更高，从而验证了该算法的有效性。
【学位授予单位】：哈尔滨工程大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2007
【分类号】：TP333

【引证文献】

相关硕士学位论文 前9条

1 李嘉铭;嵌入式存储器在线容错技术研究[D];哈尔滨工业大学;2011年

2 徐金荣;基于BIST的嵌入式存储器可测性设计研究[D];北京交通大学;2008年

3 宋毅;嵌入式随机存储器测试研究及仿真[D];湖南大学;2008年

4 邓吉建;基于March C+算法的MBIST设计[D];贵州大学;2008年

5 曾慧;改进型March算法在内存异常检测中的应用[D];厦门大学;2008年

6 白石;嵌入式存储器的可测性设计及测试算法研究[D];哈尔滨工业大学;2009年

7 齐娜;适用于MRAM的集成电路测试方法研究[D];中国石油大学;2010年

8 张显敞;存储器测试算法研究及应用实现[D];电子科技大学;2013年

9 柳玉波;SoC嵌入式Flash的内建自测试方法的研究与实现[D];电子科技大学;2013年

本文编号：2802237