面向寄存器软错误的容错编译技术研究

发布时间：2020-12-06 17:44

　　从计算机诞生之日起,可靠性问题就是计算机研究领域最需要关注的几个问题之一。虽然现代计算机的可靠性已经得到了很大程度的提高,但是随着计算机制造工艺的日趋复杂和应用领域的不断拓展,计算机可靠性仍然面临很多新的挑战。软错误是半导体电路中的一种瞬态故障现象,通常是由外部环境中的高能粒子辐照和电压扰动、电磁干扰等电磁噪声诱发。宇宙射线辐射所导致的单粒子翻转等软错误一直是影响航天计算机可靠性的重要原因。而随着集成电路制造工艺的持续进步,现代处理器的性能在大幅度提高的同时,对软错误也越来越敏感。继性能和功耗问题之后,软错误导致的计算可信性已成为一个日益严峻的课题。其中,由于寄存器访问频繁却未能被良好保护,发生于寄存器中的软错误成为影响系统可靠性的最关键因素之一。与硬件容错相比,针对软错误的软件容错技术由于在实现成本和灵活性等方面的优势而备受关注。本文在程序汇编代码的基础上,从程序可靠性的角度研究了面向寄存器软错误问题的程序分析、错误检测和编译优化等技术。本文的主要工作分为以下五个方面:1.从所运行程序角度就寄存器软错误对可靠性的影响进行定量分析,是设计和实现高效容错算法的基础。基于程序汇编代码,本文... 

【文章来源】：国防科技大学湖南省 211工程院校 985工程院校

【文章页数】：146 页

【学位级别】：博士

【部分图文】：

范艾伦辐射带

【参考文献】：
期刊论文
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[3]高效的部分冗余容错编译：复制错误流关键子图[J]. 高珑,王之元,杨学军.  软件学报. 2007(09)
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[5]处理器容错技术研究与展望[J]. 傅忠传,陈红松,崔刚,杨孝宗.  计算机研究与发展. 2007(01)
[6]高性能低功耗的容错编译技术:错误流压缩算法[J]. 高珑,杨学军.  软件学报. 2006(12)
[7]单粒子效应对卫星空间运行可靠性影响[J]. 王长河.  半导体情报. 1998(01)

博士论文
[1]多核微处理器容软错误设计关键技术研究[D]. 龚锐.国防科学技术大学 2008



本文编号：2901778