基于STM32F103的多通道光测试系统的设计

发布时间：2021-01-10 06:46

　　介绍一套基于单片机STM32F103的多通道光测试系统的设计方案及实现电路。系统能快速对光偏振相关损耗（PDL）、光插入损耗（IL）、光回波损耗（RL）进行测试,并输出1270、1310、1490、1550、1625 nm五个波长的光源,通过以太网连接电脑界面软件实现半自动测试。各项测试的数据形成报表供打印或储存。 

【文章来源】：广东通信技术. 2020,40(09)

【文章页数】：5 页

【部分图文】：

邦加球上偏振态的Stokes矢量表图

界面软件由VC编写,界面友好,操作易懂,能同时进行多通道光功率、回波损耗、偏振采集测试。界面软件测试结束后,将自动储存测试设备的型号及编号、测试时间、测试数据等信息。测试过程中随时通过点击数据管理按键进行数据查看及打印输出,数据管理图如图8所示。4 技术指标

多通道光测试系统通过STM32F103微处理器管理与控制着偏振控制模块、光功率采集模块、光回波损耗测试模块、多通道光源模块、以太网接口及界面软件,每个模块都具有相应的功能,系统组成框图如图1所示。2.1 STM32F103微处理器

【参考文献】：
期刊论文
[1]光回波损耗(后向反射)测试仪的校准[J]. 詹志强,夏铭,高建强,孙闻.  电子测量技术. 2008(09)
[2]偏振控制器的研究进展[J]. 赵娜,李小妍,刘继红.  西安邮电学院学报. 2008(03)
[3]基于ATmega128的无线数据采集系统[J]. 姜虎强,姜平,杜亚江,杨成慧.  微计算机信息. 2007(26)



本文编号：2968257