基于知识的半导体存储器故障诊断系统
发布时间：2021-04-26 13:53
目前，半导体存储器（RAM）是应用范围最广、使用数量巨大的集成电路。随着电子设备的智能程度的提高和计算机通讯的飞速发展，促使半导体存储器在品种、读写周期和容量上都发生了很大变化。为了确保半导体存储器的质量和研制开发符合系统的设计要求，在集成电路研制、生产和应用等各个阶段都要进行反复多次的检验和测试，并且需要对存储器的故障进行诊断，以便对产品进行改进。 《GH3163半导体存储器故障测试系统》是国家“八·五”重点科技攻关项目，已于1995年12月通过了国家技术鉴定。作者参加了该项任务，主持了测试系统软件设计开发和部分硬件的研制工作，并以此为基础设计实现了基于知识的《KBSMDiag半导体存储器诊断系统》，对半导体存储器的故障进行了实验性诊断。 本文简要地介绍了存储器测试系统的硬件的结构和新一代的面向对象的编程方法对测试系统的设计与实现。由Derek Colreman等提出的合成方法的面向对象编程技术发展了OMT／Rumbaugh，Booch，CRC和Objectory的最好的特性，并对面向对象的分析、设计和实现，提供了更直接的途径。半导体存储器测试系统采...
【文章来源】：中国科学院大学(中国科学院计算技术研究所)北京市
【文章页数】：130 页
【学位级别】：博士
【文章目录】：
致谢
摘要
ABSTRACT
目录
第1章 引言
1.1 测试技术的发展概况
1.2 测试算法的选择和评价
1.3 半导体存储器故障诊断的工具
1.4 本文的安排
第2章 半导体存储器测试系统描述
2.1 半导体存储器测试分类及测试内容
2.1.1 按目的测试分类
2.1.2 按性能测试分类
2.2 半导体存储器测试系统的硬件结构
2.2.1 存储器测试系统硬件的基本组成
2.2.2 存储器测试系统流水线结构
2.2.3 存储器测试系统工作过程
2.3 基于合成方法的半导体存储器测试系统软件设计与实现
2.3.1 存储器测试系统软件的系统分析
2.3.2 存储器测试系统软件的系统设计
2.3.3 存储器测试系统软件的系统实现
第3章 半导体存储器故障类型的分析
3.1 半导体存储器的分类与性能指标
3.1.1 半导体存储器的分类
3.1.2 半导体存储器的性能指标
3.2 半导体存储器的基本组成和结构
3.3 半导体存储器产生故障原因的分析
3.3.1 半导体存储器硬失效（故障）的分析
3.3.2 半导体存储器软失效（故障）的分析
3.4 半导体存储器的故障模型
第4章 半导体存储器测试算法的研究
4.1 测试算法的故障覆盖几率的定义
4.2 常用测试算法故障覆盖几率的计算
4.2.1 全位“1”和全位“0”的分析
4.2.2 检验板法的分析
4.2.3 齐步法的分析
4.2.4 跳步法的分析
4.2.5 乒乓法的分析
4.2.6 走步法的分析
4.2.7 移动对角线法的分析
4.3 本章小节
第5章 基于知识诊断的概念体系
5.1 基于知识的诊断概述
5.2 诊断推理的概念体系
5.2.1 诊断对象性质与分类
5.2.2 诊断问题的基本概念
5.2.3 系统故障的分类
5.2.4 诊断问题的形式化定义
5.3 基于知识诊断推理策略
Diag诊断系统的实现">第6章 KBSMDiag诊断系统的实现
6.1 半导体存储器故障诊断的基本内容、过程与特点
6.1.1 半导体存储器故障诊断的基本内容与过程
6.1.2 半导体存储器故障诊断的特点
Diag半导体存储器故障诊断推理策略"> 6.2 KBSMDiag半导体存储器故障诊断推理策略
Diag诊断系统模型的描述"> 6.3 KBSMDiag诊断系统模型的描述
Diag诊断系统模型的概述"> 6.3.1 KBSMDiag诊断系统模型的概述
6.3.2 任务管理模块（TM）的实现
Diag诊断系统的功能"> 6.4 KBSMDiag诊断系统的功能
Diag诊断系统的系统设计"> 6.5 KBSMDiag诊断系统的系统设计
6.6 运行过程
6.7 诊断结果
6.8 本章小结
第7章 结束语
7.1 本文的主要工作
7.2 今后的工作
参考文献
作者简历及攻读博士期间已发表文章
【参考文献】：
期刊论文
[1]LSI测试系统的图形发生器[J]. 郭志先,孙祖希,宋奎元. 计算机研究与发展. 1984(12)
[2]半导体随机存储器测试仪[J]. 郭志先,宋奎元. 电子计算机动态. 1978(03)
本文编号：3161529
【文章来源】：中国科学院大学(中国科学院计算技术研究所)北京市
【文章页数】：130 页
【学位级别】：博士
【文章目录】：
致谢
摘要
ABSTRACT
目录
第1章 引言
1.1 测试技术的发展概况
1.2 测试算法的选择和评价
1.3 半导体存储器故障诊断的工具
1.4 本文的安排
第2章 半导体存储器测试系统描述
2.1 半导体存储器测试分类及测试内容
2.1.1 按目的测试分类
2.1.2 按性能测试分类
2.2 半导体存储器测试系统的硬件结构
2.2.1 存储器测试系统硬件的基本组成
2.2.2 存储器测试系统流水线结构
2.2.3 存储器测试系统工作过程
2.3 基于合成方法的半导体存储器测试系统软件设计与实现
2.3.1 存储器测试系统软件的系统分析
2.3.2 存储器测试系统软件的系统设计
2.3.3 存储器测试系统软件的系统实现
第3章 半导体存储器故障类型的分析
3.1 半导体存储器的分类与性能指标
3.1.1 半导体存储器的分类
3.1.2 半导体存储器的性能指标
3.2 半导体存储器的基本组成和结构
3.3 半导体存储器产生故障原因的分析
3.3.1 半导体存储器硬失效（故障）的分析
3.3.2 半导体存储器软失效（故障）的分析
3.4 半导体存储器的故障模型
第4章 半导体存储器测试算法的研究
4.1 测试算法的故障覆盖几率的定义
4.2 常用测试算法故障覆盖几率的计算
4.2.1 全位“1”和全位“0”的分析
4.2.2 检验板法的分析
4.2.3 齐步法的分析
4.2.4 跳步法的分析
4.2.5 乒乓法的分析
4.2.6 走步法的分析
4.2.7 移动对角线法的分析
4.3 本章小节
第5章 基于知识诊断的概念体系
5.1 基于知识的诊断概述
5.2 诊断推理的概念体系
5.2.1 诊断对象性质与分类
5.2.2 诊断问题的基本概念
5.2.3 系统故障的分类
5.2.4 诊断问题的形式化定义
5.3 基于知识诊断推理策略
Diag诊断系统的实现">第6章 KBSMDiag诊断系统的实现
6.1 半导体存储器故障诊断的基本内容、过程与特点
6.1.1 半导体存储器故障诊断的基本内容与过程
6.1.2 半导体存储器故障诊断的特点
Diag半导体存储器故障诊断推理策略"> 6.2 KBSMDiag半导体存储器故障诊断推理策略
Diag诊断系统模型的描述"> 6.3 KBSMDiag诊断系统模型的描述
Diag诊断系统模型的概述"> 6.3.1 KBSMDiag诊断系统模型的概述
6.3.2 任务管理模块（TM）的实现
Diag诊断系统的功能"> 6.4 KBSMDiag诊断系统的功能
Diag诊断系统的系统设计"> 6.5 KBSMDiag诊断系统的系统设计
6.6 运行过程
6.7 诊断结果
6.8 本章小结
第7章 结束语
7.1 本文的主要工作
7.2 今后的工作
参考文献
作者简历及攻读博士期间已发表文章
【参考文献】：
期刊论文
[1]LSI测试系统的图形发生器[J]. 郭志先,孙祖希,宋奎元. 计算机研究与发展. 1984(12)
[2]半导体随机存储器测试仪[J]. 郭志先,宋奎元. 电子计算机动态. 1978(03)
本文编号：3161529
本文链接：https://www.wllwen.com/kejilunwen/jisuanjikexuelunwen/3161529.html
