FLASH存储器的测试技术

发布时间：2021-11-27 05:46

　　描述了加快FLASH存储器的测试速度,提高测试准确性,降低测试成本的方法。以基本测试原理,分析各种测试方式,包括查询方式、最大页容量方式、高电压写数据方式、并行操作方式等,复杂程度不同,故障覆盖率也不同,要在测试时间,故障覆盖率,测试成本间进行折衷。 

【文章来源】：电子制作. 2020,(18)

【文章页数】：2 页

【文章目录】：
1 FLASH存储器的特点
2 提高测试速度的方法
3 提高测试准确性的方法
    (1)棋盘格法
    (2)奇偶校验法
    (3)同步法
    (4)地址跳变法
4 测试方法的综合使用


【参考文献】：
期刊论文
[1]领跑于世界前沿的存储器测试技术[J]. 王春宇.  中国集成电路. 2006(03)
[2]存储器的测试技术[J]. 王健,李金凤,边福强,刘欢.  计量与测试技术. 2005(04)
[3]嵌入式存储器测试方法研究[J]. 李金凤,曹顺,汪滢.  计量与测试技术. 2004(12)



本文编号：3521670