三值光学计算机自检与错误处理机制

发布时间：2017-09-20 19:05

  本文关键词：三值光学计算机自检与错误处理机制

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【摘要】：针对三值光学计算机进入实际应用阶段的需要,提出三值光学计算机控制系统的自检和错误处理机制,阐述坏位替换技术、自检策略、错误处理方法以及完整的自检与错误处理流程。该机制的建立大幅度降低三值光学计算机对设备制造精良度的要求,降低制造成本并提高设备的可用性。测试结果表明,该机制可以满足三值光学计算机查错和纠错的要求,自动化地处理常见错误,达到了项目预期的研究目标。
【作者单位】： 华东交通大学信息工程学院;华东交通大学软件学院;武汉大学计算机学院;
【关键词】： 三值光学计算机 控制系统 坏位替换 自检 错误处理
【基金】：国家自然科学基金项目(61162001) 江西省自然(青年)科学基金项目(20132BAB211027,20151BAB217017)
【分类号】：TP381
【正文快照】： 0引言三值光学计算机[1-4]的第二代和第三代实验系统(SD11)都具有超过千位数据宽度的可重构三值光学处理器,并且位数很容易进行模块化扩展,已完成的实验充分证实了这种计算机具有数据位数众多和处理器可重构的两大优势[5-7]。最新的研究成果又证实了三值光学计算机可以融入到

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本文编号：889841