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随机耦合模型中损耗因子的分析与获取

发布时间:2017-12-08 21:08

  本文关键词:随机耦合模型中损耗因子的分析与获取


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【摘要】:随机耦合模型(RCM)是研究电磁脉冲干扰下波混沌系统中感应电压统计预测的新方法,其中波混沌腔体损耗因子的获取是这种方法使用的关键。从随机耦合模型理论出发,分析了损耗因子对腔体阻抗随频率变化特性的影响,探讨了不同损耗因子下归一化阻抗矩阵的统计特性,提出了使用腔体散射阻抗与辐射阻抗的比值作对照,以快速获取腔体损耗因子的新方法。
【作者单位】: 中国工程物理研究院复杂电磁环境科学与技术重点实验室;中国工程物理研究院应用电子学研究所高功率微波技术重点实验室;盲信号处理重点实验室;
【基金】:装备预研基金项目
【分类号】:O441
【正文快照】: 3.盲信号处理重点实验室,成都610041)随着电子技术的发展,电子设备对电磁干扰也越来越敏感,在复杂电磁环境中的适应性越来越重要,强电磁脉冲能量耦合进电子设备产生的影响也是高功率微波效应研究的重要部分。现实场景中,电磁环境复杂,能量耦合途径多样,电磁能量耦合到效应目标

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本文编号:1267835

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