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关联“热像”特性的缺陷带通成像检测技术

发布时间:2018-09-07 11:48
【摘要】:"热像"是造成高功率固体激光装置光学元件损伤的重要物理机制。理论分析了相位缺陷经过非线性传输引起的"热像"特性,提出了带通成像提取引起"热像"的相位缺陷关键频谱方法,构建具有典型特征的16个相位缺陷,利用3种光路结构,量化分析了"热像"特性与带通成像特性间的关系,并获得了缺陷带通成像的相对亮度与"热像"强度的线性关系,相关程度与光学构型和带通滤波参数有关。研究结果对"热像"预判有重要意义,为高功率激光装置相位缺陷的检测奠定了技术基础。
[Abstract]:Thermal imaging is an important physical mechanism that causes damage to optical elements in high power solid-state laser devices. In this paper, the characteristics of "thermal image" caused by nonlinear propagation of phase defects are analyzed theoretically, and the key spectrum method of phase defects caused by band-pass imaging is proposed, and 16 phase defects with typical characteristics are constructed. The relationship between the "thermal image" characteristics and the band-pass imaging characteristics is quantitatively analyzed by using three optical path structures, and the linear relationship between the relative brightness of the defect band-pass imaging and the "thermal image" intensity is obtained. The correlation degree is related to the optical configuration and the band-pass filter parameters. The results are of great significance for "thermal image" prediction, and lay a technical foundation for phase defect detection of high power laser devices.
【作者单位】: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心;
【基金】:国家自然科学基金(11404306) 中国工程物理研究院科学技术发展基金(2014B0401065)
【分类号】:O43

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本文编号:2228178

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