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X射线微结构阵列光源光栅相衬成像系统研究

发布时间:2021-01-18 00:01
  X射线光栅相衬成像不但继承了传统衰减衬度成像的优势,而且还同时提供样品相位信息和散射信息,具有定量、高灵敏度以及多模态同时成像的优点。光栅相衬成像既可以使用毫米尺寸的常规X射线源,又具有不使用吸收光栅的可能。因此,X射线光栅相衬成像技术被认为是将X射线相衬成像推向实际应用最强有力的竞争者,在医学成像、工业无损检测和材料科学等领域具有广泛的应用前景。本论文实现了一种新型微结构阵列阳极X射线源作为光栅相衬成像系统的照明系统,它可以免除常规光源和源光栅(吸收光栅)组合照明系统带来的大高宽比吸收光栅制作难、光通量效率低,系统复杂度大,工作能量低和成像视场小等限制,可以推进光栅相衬成像实用化。本研究主要开展了以下几个方面的工作:1.提出了 X 射线微结构阵列阳极(micro array anode structured target,MAAST)射线源。其特征是将微结构金属插入物(microstructure metal inserts,MMI)嵌入金刚石基底作为新型射线源阳极,该阳极起X射线发射器的作用,在不使用源光栅的情况下产生微米大小的周期性子源阵列。与传统的常规X射线源结合源光栅的组合照... 

【文章来源】:中国科学技术大学安徽省 211工程院校 985工程院校

【文章页数】:187 页

【学位级别】:博士

【部分图文】:

X射线微结构阵列光源光栅相衬成像系统研究


相移截面和衰减截面;,旧rgy(keV((a)与原子序数的关系((Momose,Yashiro,andTakeda2009):(b)

相衬,光栅干涉仪,多色,几何投影


??是测量相移一阶导数的微分相衬成像,包括是衍射增强成像(图1.3(b))、光栅千??涉仪成像(图1.3(c)),多色远场干涉仪(双相位光栅干涉仪(图1.3(d))、光栅投影成??像(Huang?et?al.?2009)、编码孔径相衬成像(Olivo?and?Speller?2007)和砂纸散斑成像??(图1.3(e))。当X射线穿透样品时,由于样品内部结构不同而导致折射,折射角??大小与相移一阶导数成正比,利用光学元件将折射角信号转化为光强,从而被探??测器测量。第三类是测量相移的二阶导数的自由传播相衬成像(同轴相衬成像,图??1.3(f)),当X射线经过样品时,由于样品内部结构不均匀使得X射线产生或凹或??凸的波阵面,经过一段距离传播后,凹波阵丨〖II'会带来光朿会聚而导致光强增加,??凸波阵面会带来光朿发散而导致光强降低

折射角,相移,物体,相衬


下面说明X射线经过物体引起的折射角与相移的关系。??假设一束X射线穿透一个各向均匀分布的楔形,其内部折射率》=?1-5,忽??略对X射线的衰减,如图1.4所示。由于物体引起相移大小与X射线穿越厚度成??正比,间隔Ax的两列X射线在楔形中传播不同的厚度,弓丨起的相移差为AO?,对??应的光程差为AO/A,导致波前方向偏折or(Bimbacher2018),即??tan??=?^l?=?A?竺?(,,2)??Ax*?2n?Ax??利用?lim?和?tan?a?=?a?得到,??^*-?0?Av?dx??a=±^=±S^f}±?(1,3)??2^?dx?1.71?dx??上式就建立了?X射线经过物体引起的相移与折射角(微分相移)的关系。??IMBaa??图1.4物体相移与折射角的关系。??上述多种X射线相衬成像方法都可以在同步辐射光源上实现,但是它造价极??贵,体积庞大。B前可利用普通X射线源的方法有:自由传播相衬成像、光栅干??涉仪相衬成像、多色远场千涉仪相衬成像、光栅投影成像、编码孔径成像和砂纸??散斑成像。其中可以使用普通X射线源的方法中

【参考文献】:
博士论文
[1]X射线光栅相衬成像医学应用与实验技术研究[D]. 韩华杰.中国科学技术大学 2018
[2]X射线微分相位衬度成像及CT的理论和方法研究[D]. 鲍园.中国科学技术大学 2016
[3]X射线光栅相衬成像中的信息分离以及计算机断层重建[D]. 吴朝.中国科学技术大学 2014



本文编号:2983852

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