改进型MGM(1,n)模型的焊点失效事前预测研究
发布时间:2021-04-29 06:10
为了实现对焊点失效的事前预测,提出了一种基于改进型MGM(1,n)模型的方法。首先,提取焊点电压数据的多种时域特征参数作为输入以引入多特征参数对焊点失效时间的影响;其次,合理选取模型参数以提高模型预测精度;最后,利用模型预测焊点的失效时间,输出失效信息。通过与传统GM模型对比发现,该方法的预测误差率更小、预测时间更长;通过试验验证,结果表明该方法能够实时地预测焊点的失效时间、输出有效的失效信息,准确率在85%~93%,预测时长在60~160 min。
【文章来源】:电子测量与仪器学报. 2018,32(10)北大核心CSCD
【文章页数】:6 页
【文章目录】:
0 引 言
1 模型介绍
1.1 MGM (1, n) 模型
1) 一次累加生成
2) 构建方程组
3) 建立时间响应函数
4) 辨识参数向量
5) 建立预测模型
1.2 改进型MGM (1, n) 模型
2 基于改进型MGM (1, n) 模型的焊点失效事前预测方法
2.1 特征参数的提取
1) 平均幅值:
2) 峰峰值:
3) 波形因数:
2.2 模型参数的选取
1) 初始时刻和失效阈值的选取
2) 迭代次数的选取
2.3 模型建模和失效事前预测
3 方法验证
3.1 对比分析验证
3.2 实验验证
4 结 论
【参考文献】:
期刊论文
[1]基于模糊理论的随机振动条件下叠层PBGA焊点可靠性分析[J]. 韦何耕,黄春跃. 焊接学报. 2018(02)
[2]多特征融合灰色模型的板级焊点寿命预测研究[J]. 景博,陈垚君,盛增津,胡家兴,孙萌. 仪器仪表学报. 2018(08)
[3]温度与振动耦合条件下的电路板级焊点失效模式与疲劳寿命分析[J]. 汤巍,景博,黄以锋,盛增津,胡家兴. 电子学报. 2017(07)
[4]多场耦合下基于传递熵的电路板级焊点疲劳寿命模型[J]. 汤巍,景博,盛增津,胡家兴. 中国科学:技术科学. 2017(05)
[5]基于三种GM(1,1)的BGA焊点健康预测[J]. 张国礼,王和明,潘克战. 电子技术应用. 2016(12)
[6]基于灰色模型的焊点健康状态预测[J]. 张国礼,王建业,刘苍. 焊接学报. 2016(02)
[7]基于不等间距灰色模型的疲劳寿命预测方法[J]. 李国永,谷正气,张沙,马骁骙,李吉平,胡楷. 中国机械工程. 2015(24)
[8]综合航空电子系统故障诊断与健康管理技术发展[J]. 卢海涛,王自力. 电光与控制. 2015(08)
[9]基于灰色模型的CMP过程免疫预测R2R控制[J]. 王亮,胡静涛. 仪器仪表学报. 2012(02)
硕士论文
[1]退化数据驱动的设备剩余寿命预测研究[D]. 史华洁.太原科技大学 2015
本文编号:3166999
【文章来源】:电子测量与仪器学报. 2018,32(10)北大核心CSCD
【文章页数】:6 页
【文章目录】:
0 引 言
1 模型介绍
1.1 MGM (1, n) 模型
1) 一次累加生成
2) 构建方程组
3) 建立时间响应函数
4) 辨识参数向量
5) 建立预测模型
1.2 改进型MGM (1, n) 模型
2 基于改进型MGM (1, n) 模型的焊点失效事前预测方法
2.1 特征参数的提取
1) 平均幅值:
2) 峰峰值:
3) 波形因数:
2.2 模型参数的选取
1) 初始时刻和失效阈值的选取
2) 迭代次数的选取
2.3 模型建模和失效事前预测
3 方法验证
3.1 对比分析验证
3.2 实验验证
4 结 论
【参考文献】:
期刊论文
[1]基于模糊理论的随机振动条件下叠层PBGA焊点可靠性分析[J]. 韦何耕,黄春跃. 焊接学报. 2018(02)
[2]多特征融合灰色模型的板级焊点寿命预测研究[J]. 景博,陈垚君,盛增津,胡家兴,孙萌. 仪器仪表学报. 2018(08)
[3]温度与振动耦合条件下的电路板级焊点失效模式与疲劳寿命分析[J]. 汤巍,景博,黄以锋,盛增津,胡家兴. 电子学报. 2017(07)
[4]多场耦合下基于传递熵的电路板级焊点疲劳寿命模型[J]. 汤巍,景博,盛增津,胡家兴. 中国科学:技术科学. 2017(05)
[5]基于三种GM(1,1)的BGA焊点健康预测[J]. 张国礼,王和明,潘克战. 电子技术应用. 2016(12)
[6]基于灰色模型的焊点健康状态预测[J]. 张国礼,王建业,刘苍. 焊接学报. 2016(02)
[7]基于不等间距灰色模型的疲劳寿命预测方法[J]. 李国永,谷正气,张沙,马骁骙,李吉平,胡楷. 中国机械工程. 2015(24)
[8]综合航空电子系统故障诊断与健康管理技术发展[J]. 卢海涛,王自力. 电光与控制. 2015(08)
[9]基于灰色模型的CMP过程免疫预测R2R控制[J]. 王亮,胡静涛. 仪器仪表学报. 2012(02)
硕士论文
[1]退化数据驱动的设备剩余寿命预测研究[D]. 史华洁.太原科技大学 2015
本文编号:3166999
本文链接:https://www.wllwen.com/projectlw/xtxlw/3166999.html