基于统计编码的压缩研究

发布时间：2017-07-05 16:21

  本文关键词：基于统计编码的压缩研究

  更多相关文章： 幂次 连续 交替 芯片测试 编码压缩

【摘要】：随着超大集成电路的发展,高性能、低成本的芯片成为主流。而一方面由于电路集成度增加,导致复用功能IP(Intellectual Property)核越来越多,但是外部自测试设备ATE(Auto Test Equipment)的带宽、通道数目以及时钟频率跟不上测试要求。通过提高ATE的硬件配置虽然能解决问题,但是成本过高。另一方面随着电路的发展,需要在芯片上测试的向量数也越来越多,这给测试带来更大的挑战。测试压缩是解决这些问题的重要方法之一。测试压缩不仅能够除去压缩中的冗余信息,而且可以提高ATE传送数据的速度,从而更好的减少数据传输时间、减少数据存储容量,对于大数据时代中的数据处理有着重要的意义。本文在这种背景上做出研究。首先本文介绍了压缩过程中可能出现的故障,包括软故障、硬故障,同时介绍了理想中的测试生成技术,降低在测试中发生故障几率。其次分析传统压缩方法主要包括Golomb编码、FDR编码以及交替连续编码,还有几种基于统计的压缩方法包括Huffman编码、选择Huffman编码以及九值编码等,分析出其运用统计固定块出现频率的方法来压缩数据流,得到的压缩率高且还原简单。而这些传统压缩数据方法是基于0游程或者1游程划分数据流,这种方法只能针对一种类型的游程进行编码,而本文提出用幂次划分数据流不仅针对0或1游程编码,对于交替跳变的编码也可以同时进行划分,这样划分出不同的连续或者交替块后,就可以用统一的前缀形式压缩数据流。实验结果表明本文提出的算法平均压缩率达到62.23%,高于Golomb码和折半编码。其次传统编码在还原的时候必须根据特殊标记位进行还原,而本文提出的编码方法,可以直接根据前缀1的个数计算出原数据块连续个数,从而减少还原步骤,提高了压缩时间。
【关键词】：幂次 连续 交替 芯片测试 编码压缩
【学位授予单位】：安庆师范大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2016
【分类号】：C81
【目录】：

• 摘要6-8
• ABSTRACT8-15
• 第一章 绪论15-22
• 1.1 数据压缩研究背景15-20
• 1.1.1 集成电路发展历程16-17
• 1.1.2 SOC测试压缩背景17-18
• 1.1.3 SOC测试压缩面临的瓶颈18-19
• 1.1.4 课程研究意义19-20
• 1.2 国内外研究现状20-21
• 1.3 论文各章节安排21-22
• 第二章 SOC测试技术简介22-30
• 2.1 测试概述22-24
• 2.1.1 SOC测试介绍22
• 2.1.2 SOC测试相关知识22-24
• 2.2 SOC测试故障模型和测试生成24-26
• 2.2.1 故障类型分类25
• 2.2.2 测试生成25-26
• 2.3 测试方法研究26-29
• 2.3.1 内建自测试技术和外建自测试技术26-29
• 2.3.2 测试紧缩技术29
• 2.4 小结29-30
• 第三章 基于SOC测试压缩概述30-43
• 3.1 几种常见的编码方法30-35
• 3.1.1 Golomb编码31-32
• 3.1.2 FDR编码32-33
• 3.1.3 交替与连续编码33-35
• 3.2 统计压缩方法35-42
• 3.2.1 熵理论35-36
• 3.2.2 Huffman编码36-38
• 3.2.3 选择Huffman编码38-39
• 3.2.4 最佳选择Huffman编码39-41
• 3.2.5 九值编码41-42
• 3.3 小结42-43
• 第四章 基于多个连续数据复制的幂次划分数据压缩方法43-52
• 4.1 连续复制幂次划分方法43-45
• 4.1.1 连续数据复制的幂次划分基本思想43-44
• 4.1.2 幂次划分实例44-45
• 4.1.3 多个连续数据复制的幂次划分数据集实例45
• 4.2 算法分析45-46
• 4.3 理论分析46-48
• 4.4 解码电路设计48-49
• 4.5 实验结果49-51
• 4.6 小结51-52
• 第五章 总结和展望52-54
• 致谢54-56
• 参考文献56-61
• 作者读研期间所取得的读研成果61

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本文编号：522718