集成电路测试向量的调度与优化
发布时间：2020-12-14 19:34
集成电路测试系统是对集成电路工作性能、电气参数测试的工具。最常用的使用方法是:集成电路测试系统读取测试向量,对被测芯片引脚施加输入激励,测试被测芯片的引脚输出响应,比较输出响应与预期响应来判断被测芯片是否达标。在进行集成电路测试的过程中,由于硬件无法实现理论上的无限大存储量,在某一时刻只能存储一部分的测试向量信息,因此需要一个机制及时的更换硬件内存信息。针对上述问题,本文设计了调度模块,确保硬件在合适的时侯更换内存,在测试时随时都能找到测试向量信息。调度模块在集成电路软件系统中有着承上启下的作用。本文对集成电路测试向量的调度与优化进行了以下研究:(1)从需求出发设计并实现了调度模块。调度模块实现了对测试向量的调度,确保了测试过程中硬件能够随时找到测试向量的真实信息,同时能够减少硬件内存的替换次数,缩短了测试时间,提高了测试效率。(2)设计了调度算法。调度过程需要一个调度算法来处理测试向量集,通过比较分析发现,调度机制与高速缓冲存储器Cache的最优页面替换算法OPT十分相似,因此本文以最优替换算法为基础,对其进行了优化改进,设计了适合本项目使用的调度算法。(3)由于测试向量中向量操作码...
【文章来源】：电子科技大学四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】：69 页
【学位级别】：硕士
【部分图文】：
接触测试原理图
功能测试是数字集成电路测试的主要部分。它模拟了被测设备的实际工作状态,并编写了一系列测试向量来测试被测设备的工作状态。每个测试向量指定被测设备的输入引脚的输入数字状态和输出引脚的预期输出状态。在测试过程中,测试机以设置的速率执行测试向量,并将采集的输出引脚的实际输出状态与向量中的预期输出状态进行比较,以确定被测设备的电路功能是否正常。数字集成电路功能测试的原理图如图2-2所示:功能测试的测试过程如下:测试向量集中提供被测器件在每一个向量周期中引脚的输入状态和期望状态,向量格式化编码单元收到被测器件引脚输入状态中的逻辑值,并结合测试人员设定的时序参数和波形格式,生成时序波形发送给测试通道,测试通道根据该通道内设定的电压、电流等电气参数,将输入时序波形的幅度进行增大或减小,驱动与测试通道连接的被测器件输入引脚。同一个向量测试周期中,被测器件输出引脚输出的逻辑电平被测试通道采集,并与测试通道内设定的比较高低电平值比较,将采集的电平值转换为逻辑值发送给输出结果比较单元。输出结果比较单元获取同一向量测试周期内测试向量中的期望状态,与测试通道采集的逻辑状态作对比。如果逻辑状态相同,则进行下一条测试向量的测试;如果不同,则将该测试通道的期望状态和采样状态作为历史记录保存。测试向量集全部执行后,如果测试向量全部通过测试,则被测芯片功能测试合格,如果存在测试向量未通过测试,则被测芯片功能测试不合格,可通过历史记录查找原因。
作为集成电路性能的主要工具,现在主要使用的集成电路自动化测试系统是由自动化测试设备,测试软件平台,测试环境三部分组成的[13]。如图2-3所示。集成电路测试系统可以简单地视为测试软件和测试设备的组合。测试过程可以看作是运行由测试软件在硬件测试仪器上编写和编译测试文件,并将运行结果与预期结果进行比较的过程。图中所示的集成电路测试系统的硬件是一个测试仪,由测试控制终端(主控计算机),测试机(测试模块)和设备接口板组成。如图2-4所示:
【参考文献】：
期刊论文
[1]集成电路测试原理和向量生成方法分析[J]. 宋尚升. 现代电子技术. 2014(06)
[2]基于替换概率的闪存数据库缓冲区替换算法[J]. 林子雨,赖明星,邹权,薛永生,杨思颖. 计算机学报. 2013(08)
[3]我国集成电路测试技术现状及发展策略[J]. 俞建峰,陈翔,杨雪瑛. 中国测试. 2009(03)
[4]VLSI超大规模集成电路测试和验证的发展趋势[J]. 贾建革,段新安,李咏雪. 中国测试技术. 2005(06)
博士论文
[1]提高多核处理器片上Cache利用率的关键技术研究[D]. 孙荪.中国科学技术大学 2015
[2]微网调度优化模型与方法研究[D]. 洪博文.天津大学 2014
[3]云计算任务调度策略研究[D]. 邓见光.华南理工大学 2014
[4]末级高速缓存性能优化关键技术研究[D]. 黄涛.北京大学 2013
[5]并行磁盘系统的预取及缓存技术研究[D]. 史晓东.华中科技大学 2012
硕士论文
[1]集成电路测试系统显控软件设计与实现[D]. 刘欢.电子科技大学 2019
[2]数字集成电路测试系统驱动程序的设计及实现[D]. 方田.电子科技大学 2019
[3]集成电路测试系统码型文件解析软件设计[D]. 张菁奕.电子科技大学 2018
[4]异构多核下Cache替换算法的性能优化研究[D]. 范清文.北京工业大学 2017
[5]混合存储架构的自适应页面管理算法研究[D]. 孙志文.山东大学 2016
[6]混合集成电路测试硬件电路测试板的设计[D]. 汪天伟.电子科技大学 2013
[7]混合集成电路自动测试系统研究与设计[D]. 张宪起.南京理工大学 2013
[8]混合集成电路测试系统上位机软件设计[D]. 朱龙飞.电子科技大学 2013
[9]数字集成电路测试矢量输入方法研究和软件实现[D]. 窦艳杰.电子科技大学 2012
[10]数字集成电路设计方法的研究[D]. 孔德立.西安电子科技大学 2012
本文编号：2916907
【文章来源】：电子科技大学四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】：69 页
【学位级别】：硕士
【部分图文】：
接触测试原理图
功能测试是数字集成电路测试的主要部分。它模拟了被测设备的实际工作状态,并编写了一系列测试向量来测试被测设备的工作状态。每个测试向量指定被测设备的输入引脚的输入数字状态和输出引脚的预期输出状态。在测试过程中,测试机以设置的速率执行测试向量,并将采集的输出引脚的实际输出状态与向量中的预期输出状态进行比较,以确定被测设备的电路功能是否正常。数字集成电路功能测试的原理图如图2-2所示:功能测试的测试过程如下:测试向量集中提供被测器件在每一个向量周期中引脚的输入状态和期望状态,向量格式化编码单元收到被测器件引脚输入状态中的逻辑值,并结合测试人员设定的时序参数和波形格式,生成时序波形发送给测试通道,测试通道根据该通道内设定的电压、电流等电气参数,将输入时序波形的幅度进行增大或减小,驱动与测试通道连接的被测器件输入引脚。同一个向量测试周期中,被测器件输出引脚输出的逻辑电平被测试通道采集,并与测试通道内设定的比较高低电平值比较,将采集的电平值转换为逻辑值发送给输出结果比较单元。输出结果比较单元获取同一向量测试周期内测试向量中的期望状态,与测试通道采集的逻辑状态作对比。如果逻辑状态相同,则进行下一条测试向量的测试;如果不同,则将该测试通道的期望状态和采样状态作为历史记录保存。测试向量集全部执行后,如果测试向量全部通过测试,则被测芯片功能测试合格,如果存在测试向量未通过测试,则被测芯片功能测试不合格,可通过历史记录查找原因。
作为集成电路性能的主要工具,现在主要使用的集成电路自动化测试系统是由自动化测试设备,测试软件平台,测试环境三部分组成的[13]。如图2-3所示。集成电路测试系统可以简单地视为测试软件和测试设备的组合。测试过程可以看作是运行由测试软件在硬件测试仪器上编写和编译测试文件,并将运行结果与预期结果进行比较的过程。图中所示的集成电路测试系统的硬件是一个测试仪,由测试控制终端(主控计算机),测试机(测试模块)和设备接口板组成。如图2-4所示:
【参考文献】：
期刊论文
[1]集成电路测试原理和向量生成方法分析[J]. 宋尚升. 现代电子技术. 2014(06)
[2]基于替换概率的闪存数据库缓冲区替换算法[J]. 林子雨,赖明星,邹权,薛永生,杨思颖. 计算机学报. 2013(08)
[3]我国集成电路测试技术现状及发展策略[J]. 俞建峰,陈翔,杨雪瑛. 中国测试. 2009(03)
[4]VLSI超大规模集成电路测试和验证的发展趋势[J]. 贾建革,段新安,李咏雪. 中国测试技术. 2005(06)
博士论文
[1]提高多核处理器片上Cache利用率的关键技术研究[D]. 孙荪.中国科学技术大学 2015
[2]微网调度优化模型与方法研究[D]. 洪博文.天津大学 2014
[3]云计算任务调度策略研究[D]. 邓见光.华南理工大学 2014
[4]末级高速缓存性能优化关键技术研究[D]. 黄涛.北京大学 2013
[5]并行磁盘系统的预取及缓存技术研究[D]. 史晓东.华中科技大学 2012
硕士论文
[1]集成电路测试系统显控软件设计与实现[D]. 刘欢.电子科技大学 2019
[2]数字集成电路测试系统驱动程序的设计及实现[D]. 方田.电子科技大学 2019
[3]集成电路测试系统码型文件解析软件设计[D]. 张菁奕.电子科技大学 2018
[4]异构多核下Cache替换算法的性能优化研究[D]. 范清文.北京工业大学 2017
[5]混合存储架构的自适应页面管理算法研究[D]. 孙志文.山东大学 2016
[6]混合集成电路测试硬件电路测试板的设计[D]. 汪天伟.电子科技大学 2013
[7]混合集成电路自动测试系统研究与设计[D]. 张宪起.南京理工大学 2013
[8]混合集成电路测试系统上位机软件设计[D]. 朱龙飞.电子科技大学 2013
[9]数字集成电路测试矢量输入方法研究和软件实现[D]. 窦艳杰.电子科技大学 2012
[10]数字集成电路设计方法的研究[D]. 孔德立.西安电子科技大学 2012
本文编号：2916907
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