弥散张力成像应用于早产儿脑白质损伤的研究进展

发布时间：2025-01-20 12:23

　　 脑白质损伤主要发生在<32周白质发育未成熟的早产儿,是造成慢性神经系统发育不良的主要原因,大多会留有神经系统后遗症,对家庭和社会造成极大负担。颅脑彩超和振幅整合脑电图是筛查早产儿脑损伤的主要方法,对非囊性脑白质损伤的敏感性不高。传统的MRI对检测更微小及非囊性病变优于头颅彩超,但不能量化白质损伤程度,在早产儿脑白质损伤的评估中作用有限。弥散张力成像能够可视化白质结构,评估白质纤维髓鞘化程度,是目前唯一可用于研究白质纤维的无创技术,对大脑的微观结构变化更敏感。因此本文就早产儿WMI、DTI检查优势及原理,以及DTI在早产儿脑发育、WMI疾病等应用进展做一综述。

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【文章目录】：
1 早产儿脑白质损伤
    1.1 病因及常见危险因素
    1.2 病理类型
    1.3 临床表现
    1.4 临床诊治的局限性
2 传统影像学的缺陷与弥散张力成像检查优势
3 弥散张力成像原理及其参数意义
    3.1 原理和机制
    3.2 弥散张力成像相关参数及意义
4 弥散张力成像的临床应用进展
    4.1 DTI在婴儿脑发育中的应用
    4.2 DTI在脑白质损伤的应用
5 展望



本文编号：4029252