磁敏感加权成像（SWI）在创伤性轴索损伤（TAD）中的应用价值研究

发布时间：2022-01-25 08:02

　　目的:探讨磁敏感成像技术（SWI）在颅脑创伤性轴索损伤（TAD）诊断及预后判断中的应用价值。方法:30例临床高度怀疑或已经确诊为TAD（包括脑震荡及弥漫性轴索损伤）的脑外伤病人CT检查未发现明显异常或者损伤灶不位于典型部位者（仅数例可见典型病灶）继而进行MRI检查。先行SWI检查后再行常规MR（T2WI、T1WI、DWI或FLAIR T2WI）检查。分析SWI图像特点,比较SWI与常规MR序列对轴索损伤病变的显示情况,计算SWI及常规MR序列对于病变的检出率。结果:常规MR序列、SWI对于轴索损伤病灶数目的显示率分别为24.1%,100%,病灶部位数目的显示率为42.1%,100%;SWI对于病灶数目的检出率明显高于常规MR序列。结论:SWI是目前显示脑创伤中TAD最敏感的序列。 

【文章来源】：南昌大学江西省 211工程院校

【文章页数】：42 页

【学位级别】：硕士

【部分图文】：

2）颅脑内未发现外伤性改变仅见左侧额颞部软组织肿胀，后复查CT（图3,4）亦101112

2）未见明显异常，T2WI（图3,4）左侧顶叶白质区可见斑点状稍长T2信号影，SWI（图5,6）示双侧顶叶白质区点条形地低信号影以左侧为甚；对症治疗后3周复查，T1WI（图7）未见异常，T2WI（图8）左侧顶叶病灶较

44 岁男性患者，车祸后 3 个月。昏迷 2 个月，外院 CT（图 1-3）示左侧额叶白质轴索损伤病灶，右侧顶骨骨折颅内积气，顶叶挫裂伤。临床诊断为 DAI 合并脑挫裂I（图 4）示胼胝体陈旧性损伤改变，T2WI（图 5,6）可见左侧额叶白质区异常信号顶叶骨折并周围脑组织挫裂伤改变，ADC 及 DWI（图 7,8）可见左侧双侧额叶斑点号影，GRE 序列（图 9）较之病灶显示更多更清楚。SWI（图 10-12）则可发现双侧左侧枕叶及胼胝体压部多发低信号，右侧顶骨骨折周围亦见类似低信号影说明右侧存在轴索损伤。在在在

【参考文献】：
期刊论文
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[3]脑弥漫性轴索损伤的机制与诊断的研究[J]. 罗起胜,谭源福.  广西医学. 2008(02)
[4]磁敏感成像的原理及其应用进展[J]. 孙勤学,张敏鸣.  国外医学(临床放射学分册). 2007(06)
[5]磁敏感成像在肿瘤方面的应用:原理与前景[J]. 于德新,杨传彬,李传福.  国外医学(临床放射学分册). 2007(06)
[6]磁敏感加权成像鉴别多系统萎缩与特发性帕金森病的初步研究[J]. 冯逢,有慧,胡凌,王含,郑福玲,金征宇,崔丽英.  中国医学影像技术. 2007(06)
[7]中枢神经系统铁代谢与帕金森病的关系[J]. 王俊,姜宏,谢俊霞.  生理科学进展. 2003(01)

博士论文
[1]弥漫性轴索损伤的实验研究和影像学研究[D]. 孙晓川.重庆医科大学 2004



本文编号：3608178