基于脑表面形态学分析在特发性全面性癫痫的应用

发布时间：2017-07-25 21:11

  本文关键词：基于脑表面形态学分析在特发性全面性癫痫的应用

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【摘要】：目的应用基于脑表面形态学的分析,探讨特发性全面性癫痫(IGE)脑皮层的结构改变。方法收集IGE患者16例(IGE组)和健康志愿者16名(对照组),均行常规序列和高分辨率3D-T1WI结构像采集。利用FreeSurer软件测量脑皮层厚度、表面积及灰质体积,并分析形态学异常脑区与病程的相关性。结果与对照组比较,IGE组右颞中回皮层变薄(P=0.010 9),左颞中回表面积减小(P=0.000 3),左额下回中部(P=0.000 2)、左外侧枕叶(P=0.043 6)、右岛叶(P=0.000 7)表面积增大;左颞上回体积减小(P=0.011 9)。皮层厚度、脑表面面积、脑灰质体积与病程、发病起始年龄均无相关性(P均0.05);右颞中回皮层厚度与病程呈负相关(r=-0.48,P0.05)。结论 IGE存在多个脑区微观结构的形态学异常。基于脑表面形态学分析可为IGE提供一定的影像学依据。
【作者单位】： 遵义医学院附属医院影像科贵州省医学影像中心;遵义市第一人民医院影像科;
【关键词】： 癫痫 特发性全面性 磁共振成像 脑形态学分析
【基金】：国家自然科学基金(81360218)
【分类号】：R445.2;R742.1
【正文快照】： 特发性全面性癫痫(idiopathic generalized epilep-sies,IGE)是临床最常见的特发性癫痫,占全部癫痫的1/3[1-2]。30%的癫痫药物治疗无效(难治性癫痫),手术治疗效果较好。因此,术前明确致痫灶非常重要。常规MR检查常不能发现IGE病灶。本研究采用基于脑表面形态学的分析方法,对IG

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本文编号：573278