汉族青年人上颌腭侧咀嚼黏膜厚度的CBCT研究

发布时间：2021-04-10 17:13

　　目的应用锥形束计算机体层摄影术（cone beam computed tomography, CBCT）测量汉族牙周健康青年人上颌腭侧咀嚼黏膜厚度,并探讨性别、位置以及腭穹窿形态对上颌腭侧黏膜厚度的影响。方法招募牙周健康的汉族青年志愿者32例（男15例,女17例）,使用CBCT图像分析法测量受试者上颌双侧尖牙至第二磨牙区正中距离龈缘3、6、9、12 mm水平处共1 280个位点处的腭侧咀嚼黏膜厚度。并于上颌第一磨牙处计算每位受试者腭穹窿的宽高度比（W/H）得出中位数:2.59。由中位数2.59将受试者划分为高穹窿（W/H<2.59）和低穹窿（W/H≥2.59）组。结果受测志愿者上颌腭侧咀嚼黏膜平均厚度为（3.66±1.15）mm,尖牙处上颌腭侧黏膜平均厚度为（3.23±0.71）mm,第一前磨牙处为（3.53±0.75）mm,第二前磨牙处为（4.87±0.58）mm,第一磨牙处为（3.21±0.90）mm,第二磨牙处为（4.39±1.67）mm。上颌腭侧黏膜厚度由尖牙区往后逐渐增厚,至第一磨牙区锐减,在第二磨牙区再次增厚且黏膜厚度从距龈缘向腭中缝处逐渐增厚（P<0.05）;... 

【文章来源】：口腔医学. 2020,40(10)

【文章页数】：6 页

【部分图文】：

CBCT图像分析法测量位点示意图

图1 CBCT图像分析法测量位点示意图腭穹窿宽度(W):上颌左右两侧第一磨牙釉牙骨质界处的连线距离。腭穹窿高度(H):第一磨牙腭骨最深处至连接上颌左右两侧第一磨牙釉牙骨质界的水平线间的垂直距离。计算每位志愿者腭穹窿的宽高度比(W/H)(图3)。得出中位数:2.59。由中位数2.59将志愿者划分为高穹窿(W/H<2.59)和低穹窿(W/H≥2.59)两组。

腭穹窿宽度(W):上颌左右两侧第一磨牙釉牙骨质界处的连线距离。腭穹窿高度(H):第一磨牙腭骨最深处至连接上颌左右两侧第一磨牙釉牙骨质界的水平线间的垂直距离。计算每位志愿者腭穹窿的宽高度比(W/H)(图3)。得出中位数:2.59。由中位数2.59将志愿者划分为高穹窿(W/H<2.59)和低穹窿(W/H≥2.59)两组。利用eXamVison软件对CBCT扫描影像分别进行观察和测量,同一受试者的实验数据两周后进行重复测量采集,取平均值。

【参考文献】：
期刊论文
[1]汉族人群硬腭黏膜厚度测量:CBCT图像分析法和探查法的比较[J]. 马婵娟,轩东英,王仁飞,金冬梅.  中国组织工程研究. 2017(24)
[2]上颌腭侧咀嚼黏膜厚度与腭穹窿形态的CBCT研究[J]. 薛绯,张瑞.  牙体牙髓牙周病学杂志. 2016(11)



本文编号：3130024