硬质合金表面纳米周期硬质膜的制备及性能
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【学位级别】:硕士
【部分图文】:
图2.1QHV-JGP400BII多靶磁控溅射纳米膜层系统
单层CrAlN、AlN和VN的薄膜进行对比,得出调制周期、CrAlN/VN周期膜层力学性能变化间的关系。出调制周期、调制比对CrAlN/AlN、CrAlN/VN周期膜层射膜层的制备工艺设备处理设备:芝生物科技股份有限公司生产的SB-5200DTD超声波清洗进行....
图2.3日本理学生产的UtimaⅣX射线衍射仪Fig.2.3UtimaIVX-raydiffractioninstrumentmanufacturedbyRigaku为了更好的表征膜层信息,人们在普通X射线衍射技术的基础上开发出了掠
-17-图2.3日本理学生产的UtimaⅣX射线衍射仪timaIVX-raydiffractioninstrumentmanufactured征膜层信息,人们在普通X射线衍射技术(GIXRD)技术。该技术采用平行光系统,全反射临界角附近时,射线穿透深....
图2.4奥林巴斯生产的LEXTOLS4100激光共聚焦显微镜Fig.2.4LEXTOLS4100laserconfocalmicroscopymanufacturedbyOLYMPUS
程时考虑到X射线折射的影响,公式如式(2-1)所示=(1-ndΛ—晶面间距;射线衍射平均指数;周期;入射X射线与晶面的夹角。=nλ/2sinθn。貌检测显微镜的分辨率极限是0.35μm,而激光共聚焦显微镜光共聚焦显微镜既具有光学显微镜分析的便易性又具和事实形貌观察的....
图2.5日立生产的S-3400N扫描电镜附属能谱仪Fig.2.5S-3400NscanningelectronmicroscopeattachedspectrometermanufacturedbyHitachi
采用奥林巴斯(OLYMPUS)公司所生产的LEXTOLS对膜层表面形貌、粗糙度进行表征。该显微镜分辨率XY分辨率为10nm。分检测S-3400N扫描电子显微镜附属能谱仪(EDX)对薄膜成对样品成分进行分析,但对于氧(O)和氮(N)这些分析时不具备准确性。本文能谱数据均....
本文编号:4001398
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