基于结构光检测的三维轮廓测量专利技术综述

发布时间：2021-04-10 09:03

　　结构光三维轮廓测量技术是一种基于主动视觉的非接触三维测量方法,近年来成为几何测量领域的一个热点。本文基于CNABS和DWPI数据库,通过检索、筛选、统计和分析国内外与结构光三维轮廓测量相关的发明和实用新型专利,重点研究了点结构光法、线结构光法、面结构光法的技术发展路线,并对其未来发展趋势进行了展望。 

【文章来源】：中国发明与专利. 2020,17(S2)

【文章页数】：6 页

【部分图文】：

基于结构光检测的三维轮廓测量技术的专利申请趋势的年度分布（单位：件）

图2显示了技术来源和目标市场的分布，从图2可以看出，日本、中国、美国、韩国、德国等国家在基于结构光检测的三维轮廓测量技术领域的申请量占比较大，是主要的技术原创国，我国起步虽然较晚，但专利申请量已经占了全世界的三分之一以上，这与我国近年来大力发展精密制造业有关，相关企业和科研院校对基于结构光检测的三维轮廓测量技术领域的关注度也日益提高。日本、中国、美国是主要的技术目标国，也是世界上主要的专利应用市场，说明这些国家对基于结构光检测的三维轮廓测量技术领域的需求量较大。其中，日本一直关注于精密测量领域，而中国的制造业也比较发达，因此，结构光三维轮廓测量技术有着较大的市场前景。2.3 全球主要申请人分析

图3显示了基于结构光检测的三维轮廓测量技术领域专利申请量的全球主要申请人排名分布。从图3可以看出，美、韩申请人在整个基于结构光检测的三维轮廓测量技术领域占据重要地位，其中韩国株式会社高永科技最为突出。高永科技于2002年4月成立，目前已成长为可高效运用光学检测技术、智能系统软件技术、精密机械设计技术的世界性企业，其基于结构光检测的三维轮廓测量技术在国际上具有一定地位，专利申请量也处于领先地位。对于国内申请人，高校和科研院所占据了该领域专利申请的主导地位。其中，四川大学是该领域的领军者。值得注意的是，国内各申请人的申请量之间差距并不大，属于齐头并进的态势，这也说明该技术领域在国内竞争比较激烈，没有谁处于绝对领先地位。

【参考文献】：
期刊论文
[1]线结构光测量技术研究进展[J]. 李玥华,周京博,刘利剑.  河北科技大学学报. 2018(02)

博士论文
[1]基于线结构光扫描的三维表面缺陷在线检测的理论与应用研究[D]. 吴庆华.华中科技大学 2013
[2]线结构光三维自动扫描系统关键技术的研究[D]. 王鹏.天津大学 2008

硕士论文
[1]基于平行多线的手持式激光三维扫描技术研究和应用[D]. 张晨博.南京航空航天大学 2017
[2]基于结构光的双目立体成像技术研究[D]. 刘振.中国科学院研究生院（光电技术研究所） 2013



本文编号：3129357