当前位置:主页 > 管理论文 > 科研管理论文 >

浅谈专利技术综述对专利实质审查的裨益

发布时间:2024-03-16 01:17
  以对半导体晶片切割胶带领域的全球专利技术综述为切入点,浅谈将专利技术综述应用到日常审查实践中对提高正确理解发明,准确、高效命中最相关的现有技术、提高审查效率与质量的裨益之处。

【文章页数】:2 页

【文章目录】:
1 专利技术综述对提高审查能力的必要性-以半导体晶片切割胶带领域为例
2 半导体晶片切割胶带专利技术综述
3 半导体晶片切割胶带专利技术综述在审查实践中的应用
4 结论



本文编号:3928896

资料下载
论文发表

本文链接:https://www.wllwen.com/guanlilunwen/keyanlw/3928896.html


Copyright(c)文论论文网All Rights Reserved | 网站地图 |

版权申明:资料由用户cb09f***提供,本站仅收录摘要或目录,作者需要删除请E-mail邮箱bigeng88@qq.com