阵列天线波束对透波罩功率传输系数的影响分析
发布时间:2021-07-13 06:28
为了分析相控阵天线波束展宽后对透波罩透波性能的影响,采用介质平板作为研究对象,分别针对机械扫描天线和平面相控阵天线开展透过介质平板的远场方向图仿真,获取两种天线下介质平板的功率传输系数,分析天线扫描角、波束入射角对功率传输系数的影响。结果表明,天线在一定波束宽度下,机械扫描天线平板功率传输系数与波束宽度无关,平面相控阵天线平板功率传输系数在小入射角下与波束宽度关系不大,在大入射角下,功率传输系数随着入射角的增大而迅速降低,且无法通过优化厚度改善。
【文章来源】:空间电子技术. 2020,17(01)
【文章页数】:5 页
【部分图文】:
机扫、相扫天线波束宽度随扫描角变化图
采用不同3dB波束宽度的天线近场数据,用于介质平板功率传输系数仿真。采用CST仿真软件,建立了如图2所示的仿真模型。仿真模型由天线和介质平板组成,其中天线采用近场数据等效代替,介质平板厚度由公式(1)给出。同时,通过旋转天线的方式改变天线和介质平板的夹角,获取不同的天线扫描角和入射角。2.2 小入射角仿真分析
介质平板的功率传输系数是通过比较天线加介质平板(有罩)方向图和单天线(无罩)方向图的增益得到的,从有罩、无罩的天线方向图中也可以分析出大入射角大扫描角下相扫天线介质平板功率传输系数下降的原因。选取50°入射角的机扫、相扫两种状态,比较有罩、无罩两种状态的天线方向图,如图3所示。从图3中可以看出,机扫天线有罩、无罩两种状态下天线方向图基本无畸变,方向图对称性良好,主瓣宽度和副瓣电平均无明显变化;相扫天线无罩状态下天线方向图左右存在明显不对称,有罩状态下主瓣宽度明显变窄,副瓣显著提高,对导引头成像精度均会造成不利的影响。
【参考文献】:
期刊论文
[1]高超声速飞行器毫米波天线罩电气性能研究[J]. 荆江,张昱煜,徐银芳,邓刚. 微波学报. 2015(01)
[2]相控阵雷达导引头技术发展现状分析[J]. 唐怀民,魏飞鸣,宋柯. 制导与引信. 2014(03)
[3]现代导弹导引头发展综述[J]. 汤永涛,林鸿生,陈春. 制导与引信. 2014(01)
[4]雷达天线罩技术及其电性能研究综述[J]. 李欢,刘钧,肖加余,曾竟成,邢素丽. 材料导报. 2012(15)
[5]低RCS的双层缝隙阵FSS雷达天线罩的设计与分析[J]. 陈磊,董金明. 空间电子技术. 2006(04)
[6]超高音速导弹天线罩电性能评价[J]. 张恒庆. 制导与引信. 2005(01)
本文编号:3281541
【文章来源】:空间电子技术. 2020,17(01)
【文章页数】:5 页
【部分图文】:
机扫、相扫天线波束宽度随扫描角变化图
采用不同3dB波束宽度的天线近场数据,用于介质平板功率传输系数仿真。采用CST仿真软件,建立了如图2所示的仿真模型。仿真模型由天线和介质平板组成,其中天线采用近场数据等效代替,介质平板厚度由公式(1)给出。同时,通过旋转天线的方式改变天线和介质平板的夹角,获取不同的天线扫描角和入射角。2.2 小入射角仿真分析
介质平板的功率传输系数是通过比较天线加介质平板(有罩)方向图和单天线(无罩)方向图的增益得到的,从有罩、无罩的天线方向图中也可以分析出大入射角大扫描角下相扫天线介质平板功率传输系数下降的原因。选取50°入射角的机扫、相扫两种状态,比较有罩、无罩两种状态的天线方向图,如图3所示。从图3中可以看出,机扫天线有罩、无罩两种状态下天线方向图基本无畸变,方向图对称性良好,主瓣宽度和副瓣电平均无明显变化;相扫天线无罩状态下天线方向图左右存在明显不对称,有罩状态下主瓣宽度明显变窄,副瓣显著提高,对导引头成像精度均会造成不利的影响。
【参考文献】:
期刊论文
[1]高超声速飞行器毫米波天线罩电气性能研究[J]. 荆江,张昱煜,徐银芳,邓刚. 微波学报. 2015(01)
[2]相控阵雷达导引头技术发展现状分析[J]. 唐怀民,魏飞鸣,宋柯. 制导与引信. 2014(03)
[3]现代导弹导引头发展综述[J]. 汤永涛,林鸿生,陈春. 制导与引信. 2014(01)
[4]雷达天线罩技术及其电性能研究综述[J]. 李欢,刘钧,肖加余,曾竟成,邢素丽. 材料导报. 2012(15)
[5]低RCS的双层缝隙阵FSS雷达天线罩的设计与分析[J]. 陈磊,董金明. 空间电子技术. 2006(04)
[6]超高音速导弹天线罩电性能评价[J]. 张恒庆. 制导与引信. 2005(01)
本文编号:3281541
本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/hangkongsky/3281541.html