星载T/R组件加速寿命试验方法

发布时间：2021-10-16 14:36

　　T/R组件作为相控阵天线的核心部件,结构复杂、体积小、集成度高,其可靠性直接影响整机寿命.国内星载毫米波T/R组件尚无长期在轨工作经历,缺乏有效的加速寿命试验方法,为支撑星载毫米波相控阵天线可靠性设计及寿命评估,需开展T/R组件加速寿命试验方法研究.本文研究T/R组件原理及失效机理,结合国内外加速寿命试验研究现状,提出T/R组件加速寿命试验流程,分析比较激活能预估验证法、可靠性预计验证法和多应力评估试验法三种不同试验方法的试验流程、试验方法选取原则及试验参数确定等内容,为开展星载毫米波相控阵天线T/R组件加速寿命试验提供指南. 

【文章来源】：空间控制技术与应用. 2016,42(03)北大核心CSCD

【文章页数】：6 页

【文章目录】：
0 引言
1 T/R组件原理简述
2 T/R组件失效机理分析
3 加速寿命试验方法研究
    3.1 试验前提
    3.2 筛选试验
    3.3 加速寿命试验方法
        3.3.1 激活能预估验证试验法
        3.3.2 可靠性预计验证试验法
        3.3.3 多应力评估试验法
    3.4 方法小结
    3.5 应用案例
4 结论


【参考文献】：
期刊论文
[1]功率MMIC芯片加速寿命试验方法研究[J]. 周俊,高立.  新型工业化. 2014(07)
[2]一种星载电子产品老练试验加速因子估计方法[J]. 尤明懿.  电子产品可靠性与环境试验. 2014(01)
[3]星上单机级电子产品加速寿命试验方法研究[J]. 董澍,张亮,刘春雷,朱炜.  质量与可靠性. 2013(05)
[4]加速试验中失效机理一致性的判别方法[J]. 郭春生,谢雪松,马卫东,程尧海,李志国.  半导体学报. 2006(03)
[5]GaAs MESFET可靠性及快速评价新方法的研究[J]. 李志国,宋增超,孙大鹏,程尧海,张万荣,周仲蓉.  半导体学报. 2003(08)
[6]热应力对半导体分立器件失效率的影响[J]. 莫郁薇.  电子产品可靠性与环境试验. 1996(05)



本文编号：3439985