基于阻变存储芯片功能仿真与验证系统设计

发布时间：2018-04-30 02:16

  本文选题：自动测试设备 + 阻变存储器　； 参考：《安徽大学》2017年硕士论文

【摘要】：随着互联网技术与信息产业的迅速发展,大容量存储器的研发愈发受到重视。存储器的验证测试对于缩短研发周期,保障产品质量起到了至关重要的作用。而集成电路自动测试设备(Automatic test equipment,ATE)相对于传统的测试方法具有良好的人机交互界面、自动化程度强、易操作等特点,降低了操作人员的使用门槛,因此得到了广泛的应用。目前高端ATE市场被国外垄断且价格昂贵。本文基于阻变存储器芯片(Resistance Random Access Memory,RRAM)的功能仿真开发了一款经济实用的验证平台,主要内容有:1、研究了存储器测试的基本原理和测试技术,讨论了 ATE的国内外研究现状。2、介绍了阻变存储器基本原理,详细研究了待测阻变存储器芯片内部结构与时序工作原理;并对芯片进行了详细的功能时序验证分析,明确了验证系统的测试目的。3、详细介绍了基于待测RRAM芯片开发的验证系统硬件电路设计。包含FPGA器件选型、引脚电路设计、程控电源设计。4、重点介绍了验证系统的可编程逻辑设计:如ATE通信协议设计、定时器设计、格式化波形设计、测试结果诊断设计、测试结果存取设计。5、最后介绍了 Load Board板设计,并运用设计出的验证系统对阻变存储器芯片进行了实际测试,验证了系统逻辑设计的正确性。本文设计的验证系统具有以下特点:(1)测试速率达到1OMhz;(2)自定义ATE通信协议;(3)56个测试通道;(4)各测试通道均有独立可调的定时器;(5)支持6种格式化编码方式;(6)具有较高性价比。
[Abstract]:With the rapid development of Internet technology and information industry , the research and development of large - capacity memory has become more and more attention . The verification test of memory has played an important role in shortening the R & D period and ensuring the quality of products .

【学位授予单位】：安徽大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2017
【分类号】：TP333

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本文编号：1822622