基于串行闪存的数据诊断分析及研究

发布时间：2020-03-22 18:20

【摘要】： 快闪存储器(闪存)作为一种随着微电子工业的高速发展而诞生的新兴的半导体存储器件，以其独有的非易失性，高密度，，低成本等特点，逐渐取代了ROM／EPROM／EEPROM，在近几年中得到了迅猛的发展。尤其是串行闪存(Serial Flash)，因其具有较少的数据引脚，简单的外围电路构建，使其更为人们所常用。 但是，由于闪存自身的存储架构原因，当对闪存写时，数据由1变为0，变为0后，不能通过写再变为1。当对闪存擦除时，数据由0变为1，不能只某位单元进行擦除。当其数据的擦除和改写时，只能以块为最小单位进行操作，闪存的擦除包括块擦除和芯片擦除。块擦除是把某一擦除块的内容都变为1，芯片擦除是把整个闪存的内容都变为1。通常一个闪存存储器芯片，分为若干个擦除块，在进行闪存存储时，以擦除块为单位。且其具有10万—100万次的读写寿命。闪存的这些特性都有别于其他的存储器件。 所以，本课题针对于闪存的这些特性，对闪存(串行)在数据的存储应用接口的设计和数据文件的管理方面作了相应的研究和思考，主要就客户／生产厂商在应用串行闪存的过程中所遇到的具体实际问题出发，如数据的丢失，指令的误操作，CRC校验错误等，设计和编制了一个基于NI公司的LabWindows／CVI平台的针对M25系列串行闪存的数据诊断分析工具，以便于客户的有效和便捷使用。且试验证明该工具简单实用。
【图文】：

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【学位授予单位】：南京理工大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2007
【分类号】：TP333

【引证文献】

相关硕士学位论文 前1条

1 吴丽娟;基于串行闪存的数据采集存储系统的研究[D];中北大学;2010年

本文编号：2595432