GaN发光二极管的老化数学模型及寿命测试方法

发布时间：2017-04-14 18:17

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【摘要】：GaN发光二极管因其寿命、效率和环保等优点得到了广泛的应用。寿命问题一直是限制GaN发光二极管应用的核心问题。为了研究GaN发光二极管的老化过程,计算了GaN发光二极管物理参数,分析了GaN发光二极管的深能级缺陷和非辐射复合中心增加的老化原理,并且针对该原理的老化过程进行物理原理的分析推导,进而建立了老化数学模型。同时,利用一组实际的GaN发光二极管大应力老化实验的数据进行计算,提出了利用该数学模型的GaN发光二极管寿命的测试方法和数学计算方法,并计算出实验GaN发光二极管的寿命数值。提出的GaN发光二极管老化数学模型对比传统的阿伦纽斯模型具有针对性强、物理意义明显和寿命预测准等优点,具有很好的实际应用价值。
【作者单位】： 中国科学院深圳先进技术研究院生物光子中心;
【关键词】： 光学器件 GaN 白光LED 发光二极管 老化 寿命
【分类号】：TN312.8
【正文快照】： 1引言随着节能环保意识的提高,固态照明技术作为下一代照明技术成为当前研究的热点[1,2]。固态照明是指使用无机物半导体材料发光,作为照明光源的技术。GaN被认为是第三代半导体材料,具有禁带宽度大、电子饱和漂移速度高和导热性能良好等特性,特别适合于制作高频、大功率电子

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本文编号：306571