逐级区间删失机制下带有竞争风险的寿命试验的优化问题

发布时间：2021-10-22 12:29

　　传统的寿命试验模型中通常假定产品失效的机理只有一种,但在实际中,产品的失效机理可能存在很多种,且任何一种失效机理均可以导致产品失效,这就是竞争失效。带有竞争风险的产品的寿命是由最早发生失效机理的时间决定的,在试验中如果忽略造成产品失效的原因的信息可能会导致错误的推断。本文假定产品寿命服从带有竞争风险的指数分布,研究了普通寿命试验在带有费用限制和随机移走的定时截尾逐级删失条件下的模型优化问题。在本文中我们假设导致产品失效的多种机理是相互统计独立的,每一种失效机理都服从不同参数的指数分布,在试验当中随机移走的产品数目服从二项分布,每次随机移走的产品概率相同均为p,在此基础上推导了似然函数并得到了模型参数的极大似然估计的数值解。建立了费用模型,在给定试验费用上限的条件下,利用优化法则D-optimality对试验产品的个数,试验观察的次数及每次试验观察的间隔时间进行了优化设计,通过Monte-carlo模拟对最优设计的稳健性进行了考察,研究结果为试验者进行该类型的试验提供了有价值的参考。 

【文章来源】：云南大学云南省 211工程院校

【文章页数】：42 页

【学位级别】：硕士

【文章目录】：
摘要
Abstract
第一章 引言
    1.1 寿命试验的背景及意义
    1.2 文献调查
    1.3 本文主要内容
第二章 竞争风险的指数分布模型建立及参数估计
    2.1 模型的建立
    2.2 参数的估计
第三章 参数估计的数值模拟结果及分析
    3.1 参数估计的数值结果
    3.2 数值结果分析
第四章 费用限制下的最优设计及数值模拟分析
    4.1 模型建立
    4.2 最优设计的数值模拟及分析
第五章 结论
附录
参考文献
致谢


【参考文献】：
期刊论文
[1]竞争失效产品加速寿命试验优化设计Monte-Carlo仿真[J]. 潘刚,梁玉英,吕萌,张国龙,孟军,李伟.  电光与控制. 2013(08)
[2]竞争失效产品加速寿命试验的统计分析[J]. 王炳兴.  应用数学学报. 2002(02)
[3]竞争失效产品定时截尾的简单恒加寿命试验的优化设计[J]. 刘立喜,葛广平.  应用概率统计. 1998(03)
[4]指数分布场合下竞争失效产品加速寿命试验的Bayes估计[J]. 张志华,茆诗松.  应用概率统计. 1998(01)



本文编号：3451101