亚微米数字集成电路测试与验证方法研究及实现

发布时间：2021-09-17 13:31

　　随着集成电路技术迅速发展,集成电路工艺尺寸日益缩小,设计复杂度不断提高,集成电路测试与验证设计的重要性愈发突出。目前,芯片测试与验证的投入约占据芯片设计总投入的70%,从事测试与验证的人员是设计人员的2倍,设计方案完成之后测试平台代码约占设计代码的80%。对芯片进行验证目的是检验芯片设计功能和时序是否符合设计要求；测试的目的是检验芯片是否存在制造错误。测试与验证的角色已经打破了传统的设计与生产之间的障碍,并且导致了设计与生产技术的不断融合,例如针对时序电路测试所提出的全扫描设计,针对存储器测试所提出的内建自测试设计,针对芯片功能所提出的软硬件协同仿真技术等等。为了控制芯片设计成本,如何高效的在设计中加入可测试性设计,如何实现具有高覆盖率的验证工作,缩短设计时间,成为数字集成电路实现的技术瓶颈之一。本论文在明确上述问题的基础上对亚微米数字集成电路的测试与验证技术进行了深入研究,并将提出的方法在0.35um 1P4M CMOS工艺的税控加油机控制芯片GVC中进行了实现。最终芯片研发成功,通过专家技术鉴定。本文对税控加油机控制芯片GVC进行了简要介绍,主要包括芯片的应用背景、功能和技术指标等... 

【文章来源】：山东大学山东省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校

【文章页数】：81 页

【学位级别】：硕士

【部分图文】：

芯片测试过程框图

并将数据存储到税控存储器以及实时非易失性存储器中。加油过程中，可利用键盘对加油量或加油价格进行预置，并通过LCD显示器显示出来。系统整机实物图如图8所示。GVC芯片引脚图如图9所示。

DFT编译结果

【参考文献】：
期刊论文
[1]基于单片机的边界扫描实验系统的设计与实现[J]. 崔伟,冯长江,丁国宝.  计算机测量与控制. 2009(08)
[2]超大规模集成电路测试技术[J]. 朱莉,林其伟.  中国测试技术. 2006(06)
[3]数字集成电路故障测试策略和技术的研究进展[J]. 于云华,石寅.  电路与系统学报. 2004(03)
[4]可测试性技术的现状与未来[J]. 温熙森,胡政,易晓山,杨拥民.  测控技术. 2000(01)

硕士论文
[1]基于51IP核SoC的设计与应用[D]. 宗振兴.山东大学 2008
[2]基于March C+算法的MBIST设计[D]. 邓吉建.贵州大学 2008
[3]税控燃油加油机控制器的FPGA实现[D]. 郑杰.山东大学 2008



本文编号：3398823