PASS技术治疗安氏Ⅰ类上颌尖牙唇向低位

发布时间：2017-03-30 05:13

  本文关键词：PASS技术治疗安氏Ⅰ类上颌尖牙唇向低位，由笔耕文化传播整理发布。

【摘要】：目的:探讨运用PASS矫治技术治疗安氏I类上颌尖牙唇向低位的错牙合畸形矫治前后磨牙支抗的控制情况。材料和方法:选取大连市奥索口腔医疗有限公司金州门诊部2013年7月收治的安氏I类上颌尖牙唇向低位错牙合畸形的女性患者一例,年龄11周岁,汉族。面部左右基本对称,直面型,左、右侧磨牙中性关系,上颌拥挤10mm,下颌拥挤6mm,13、23唇向低位。使用Ortho Technology(OT)Sensation托槽结合PASS矫治技术采取减数4颗第一双尖牙的矫治计划对该病例进行治疗。结果:经过14个月的矫治疗程,患者牙列排列整齐,磨牙及尖牙I类关系,覆牙合、覆盖正常,侧貌良好。将患者矫治前后的头颅侧位片进行结构重叠,颅底重叠可见:上下颌骨无明显旋转,垂直向控制良好。并进行草杷分析定量的发现上磨牙近中移动2.5mm,下磨牙近中移动2mm,均小于拔牙间隙的1/4,达到了强支抗控制的效果,因此上下磨牙在治疗过程中支抗均控制良好。又通过对三维数字化模型重叠分析,可以直观的发现,经过矫治:上、下磨牙近中移动,略微后倾,但移动量均未超过拔牙间隙的1/4,进一步说明上下磨牙的支抗控制良好。另外将矫治前后的X线头影测量进行对比我们还发现:FMA无明显变化,提示垂直向控制良好;Z角增加3°,提示侧貌良好。矫治后的全口曲面断层片效果如下:牙根平行,未见明显吸收,牙周组织未见异常。结论:对于安氏I类上颌尖牙唇向低位错牙合畸形的患者,运用PASS矫治技术,既可以有效的控制传统颊管引起的磨牙支抗丧失的缺陷,又可以避免自然生长引起的生理性支抗的丢失,从而达到了强支抗控制。PASS矫治技术无需其他口内或者口外装置增强支抗,使矫治程序得以优化。
【关键词】：PASS矫治技术 XBT颊管 磨牙支抗
【学位授予单位】：大连医科大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2015
【分类号】：R783.5
【目录】：

• 中文摘要8-9
• 英文摘要9-11
• 前言11-12
• 材料和方法12-16
• 1.病例来源12
• 2.临床资料12-15
• 2.1 病例基本情况12
• 2.2 临床检查12-13
• 2.3 模型分析13
• 2.4 Bolton指数分析13-14
• 2.5 影像学检查14-15
• 2.6 Tweed全牙列间隙分析15
• 3.诊断15
• 4.问题列表15
• 5.矫治目标15
• 6.矫治方案设计15
• 7.治疗过程中使用材料15-16
• 8.治疗过程16
• 结果16-18
• 1.矫治结果16-17
• 2.治疗前后X线头影测量分析17
• 3．矫治前后结构重叠分析17
• 3.1 颅底重叠（见图 10）17
• 3.2 上颌重叠（见图 11）17
• 3.3 下颌重叠（见图 12）17
• 4．草杷分析（见图 13）17-18
• 5.三维数字化模型重叠分析（见图 14）18
• 讨论18-22
• 1.尖牙低位的形成包含以下几个因素18
• 2.矫治方案的选择18-19
• 3、PASS矫治技术特点19-20
• 4.PASS技术的力学分析20-21
• 5.PASS矫治技术与其他矫治技术比较21-22
• 结论22-23
• 参考文献23-25
• 综述25-32
• 参考文献30-32
• 附录32-38
• 致谢38-39

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本文编号：276305