全外显子测序技术检测在原发性免疫缺陷病诊断中的应用
[Abstract]:Total exon sequencing (WES) technology has been widely used in the gene diagnosis of clinical diseases due to its relatively economic and effective. This article mainly discusses the application of WES in the clinical diagnosis of primary immunodeficiency disease (PID), and systematically summarizes the pathogenicity gene of PID and the newly discovered pathogenetic gene, which was found under the aid of WES detection. It is divided into two parts: transcription factor related gene and non-transcription factor related gene. It is hoped that it will be helpful for clinical gene diagnosis.
【作者单位】: 复旦大学附属儿科医院新生儿科;上海市出生缺陷防治重点实验室 复旦大学儿童发育与疾病转化医学研究中心 卫生部新生儿疾病重点实验室 复旦大学附属儿科医院;
【基金】:国家重点研发计划精准医学研究重点专项“罕见病临床队列研究”资助项目(2016YFC0901500)
【分类号】:R725.9
【参考文献】
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【共引文献】
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本文编号:2368361
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