注意缺陷多动障碍患者的事件相关电位（N400）研究

发布时间：2017-10-01 19:33

  本文关键词：注意缺陷多动障碍患者的事件相关电位（N400）研究

  更多相关文章： 注意缺陷多动障碍 事件相关电位 N400 言语认知功能 视听整合连续性测试 注意功能

【摘要】：目的：事件相关电位(ERP, event-related potential)是指当人们对某刺激进行认知加工时,从头颅表面记录到的脑电位,它反映了认知过程中大脑的神经电生理的变化。视听整合持续操作测验(integrated visual and auditory continuous performance test,IVA-CPT)是一种以评价注意功能为主的神经心理学测量工具,评估在执行同一个任务时被试者的听觉和视觉注意功能。本研究的目的是拟通过对注意缺陷障碍患儿事件相关电位N400的分析以及其与IVA-CPT的相关性来探讨ADHD对儿童言语思维发育的影响。方法：本实验选取30例门诊诊断符合美国精神障碍诊断统计手册第四版(the fourth edition of the diagnostic and statistical Mannual of Mental Disorders,DSM-Ⅳ)中注意缺陷多动障碍(Attention deficit hyperactivity disorder,ADHD)诊断标准的患儿,以及年龄与其相匹配的30例健康志愿儿童作为对照进行IVA-CPT检测。同时运用视觉Oddball范式,记录事件相关电位N400在F3、F4、Cz、P3、P4区域上的波幅、潜伏期、波幅下面积。然后对两组儿童分别做IVA-CPT的检测,并统计N400各参数与IVA-CPT视觉功能参数的相关性。结果：实验结果显示,ADHD患者及三个亚型与健康志愿者相比,ADHD儿童N400的波幅降低,潜伏期延长(P0.05),尤在Cz(中央区)、F3(左侧额区)、P3(左侧顶区)更显著：但波幅下面积在各组中未达到统计学意义的差异。在IVA-CPT测试中,ADHD患儿的综合注意力商数、综合反应控制商数、听觉控制力商数、视觉控制力商数、听觉注意力商数和视觉注意力商数均显著降低(P0.05)。另外,F3(左侧额区)、Cz(中央区)、P3(左侧顶区)的波幅与视听整合连续测试的视觉注意力商数和视觉控制力商数呈正相关(P0.05)；而F3(左侧额区)、Cz(中央区)、P3(左侧顶区)的潜伏期与视听整合连续测试的视觉注意力商数和视觉控制力商数均呈负相关(P0.05)。结论：实验发现,ADHD患者的认知事件相关电位(N400)有显著改变,表现为波幅的降低和潜伏期的延长,可能是由于视觉注意功能障碍和视觉控制功能的损害有关。提示ADHD会影响儿童言语认知思维的发育。
【关键词】：注意缺陷多动障碍 事件相关电位 N400 言语认知功能 视听整合连续性测试 注意功能
【学位授予单位】：浙江中医药大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2016
【分类号】：R749.94
【目录】：

• 中文摘要5-7
• ABSTRACT7-9
• 缩略词表9-10
• 前言10-12
• 一 材料与方法12-17
• (一) 实验对象及入组标准12-13
• (1) ADHD组12
• (2) 正常对照组12-13
• (二) 实验方法13-16
• 1. 事件相关电位(ERPs)实验13-14
• 2. 视听整合持续操作测验(IVA-CPT)14-16
• (三) 实验步骤16
• (四) 统计学处理16-17
• 二、结果17-23
• (一) 一般资料17
• (二) ADHD患儿与正常对照组儿童N400的潜伏期、波幅和波幅下面积的比较17-20
• 1. ADHD患儿与正常对照儿童事件相关电位N400波幅的结果比较17-18
• 2. ADHD患儿与正常对照组儿童N400的潜伏期的比较18-19
• 3 ADHD患儿与正常对照组儿童事件相关电位N400波幅下面积的结果比较19-20
• (三) ADHD的患儿与正常对照组的IVA-CPT检测20-22
• (四) 事件相关电位N400潜伏期和波幅与ADHD儿童IVA-CPT的视觉商数的相关性22-23
• 三、分析与讨论23-27
• (一) 对ADHD患者N400的探讨24-25
• (二) IVA-CPT检测各商数的结果探讨25
• (三) ADHD患儿N400波幅、潜伏期与IVA-CPT视觉功能商数的相关性25-27
• 小结27-28
• 结论28-29
• 参考文献29-32
• 附图32-34
• 附表34-36
• 综述36-44
• 参考文献40-44

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本文编号：955284