不同粘接系统对牙体粘接界面渗漏影响的实验研究

发布时间：2020-06-09 10:12

【摘要】： 研究目的: 通过观察比较树脂-牙体硬组织粘接界面微渗漏和纳米渗漏的形态,评价三种不同粘接系统对树脂充填体周围渗漏的影响,为临床应用提供参考依据。 研究方法: 选择80颗因正畸需要而新鲜拔除的、未经治疗或其他处理的、健康的年轻人恒前磨牙。在近远中邻面釉牙骨质冠方1mm处牙颈部预备4mm×4mm×2mm大小的邻牙合洞形,随机均分为C0,C1,NT0,NT1,XⅢ0,XⅢ1,XⅤ0和XⅤ1等8组。 C0和C1组粘接面不涂粘接剂,NT0和NT1组、XⅢ0和XⅢ1组、XⅤ0和XⅤ1组分别用第5代粘接系统Prime Bond NT、第6代粘接系统XenoⅢ和第7代粘接系统XenoⅤ常规处理粘接界面,采用Ceram·X复合树脂进行光固化充填修复。将C0,NT0,XⅢ0和XⅤ0等4组浸于37℃蒸馏水中24h,C1,NT1,XⅢ1和XⅤ1等4组分别冷热循环5000次。上述处理后,充填体边缘1mm外的牙体组织涂两层指甲油,自凝塑胶封闭根尖孔。 将所有试件浸泡于37℃、500g/L氨化硝酸银溶液(pH=9.5)中24h,蒸馏水充分冲洗10sec,再浸泡于显影液中8h(同时荧光灯照射),取出试件流水冲洗20s并吹干。自颊舌方向于试验区域连续切取2～4片,宽约2mm,沿与粘接界面垂直的方向用不同粒度的油磨石由粗到细依次打磨,用17%EDTA溶液冲洗试件,并予以超声冲洗。对试件进行常规真空干燥、喷金,在扫描电子显微镜下,以二次电子模式观察剖面充填体粘接界面的微渗漏和纳米渗漏情况。 研究结果: 1.未进行冷热循环各组中,Prime Bond NT组渗漏程度最低,与XenoⅢ和XenoⅤ组比较均存在显著性差异(P＜0.05),后两者之间无显著差异(P＞0.05)。 2.进行冷热循环各组中,采用Prime Bond NT、XenoⅢ和XenoⅤ三种粘接系统的充填体边缘渗漏程度未发现显著性差异(P＞0.05)。 3.NT0和NT1、XⅢ0和XⅢ1、XⅤ0和XⅤ1两两比较,其渗漏程度无显著差异(P＞0.05)。 结论: 1.三种粘结系统相比较,全酸蚀粘接系统Prime Bond NT充填体边缘的微渗漏程度相对较低,而自酸蚀粘接系统XenoⅢ和XenoⅤ充填体边缘渗漏程度相对较高。 2.全酸蚀粘接系统Prime Bond NT和自酸蚀粘接系统XenoⅢ、XenoⅤ粘接界面均可能发生纳米渗漏。 3.应用电子显微镜观察粘接界面银染色是行之有效的纳米渗漏的检测方法。
【图文】：

l)空白对照组:电镜(100x)下观察发现，多数试件粘接界面见到裂缝，出现连续的、较宽的高亮度带状渗漏区域，分布范围广泛;高倍镜(1000X)下观察发现，牙体和树脂之间充满高亮度的大颗粒状物质。图2一3:a，b2)第5代粘接系统 (PrimeBondNT)组:电镜(loox)观察发现，所有试件未见明显裂缝，粘接界面上可见连续或不连续的线形高亮度区域。电镜(IOOOX)和(5O00x)观察发现，高亮度物质呈细小颗粒状，分布较稀疏，主要位于粘接剂和牙本质之间的混合层内，在界面附近与粘接界面相通的牙本质小管内也可见到高密度的银渗漏物质，，为纳米渗漏。图2一3:。，d
【学位授予单位】：中南大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2009
【分类号】：R783.1

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本文编号：2704539