高密度cDNA基因芯片筛选小鼠脑发育、损伤相关基因的研究

发布时间：2021-07-19 16:51

　　脑发育和损伤的关系日益受到人们的重视,一方面,一些发育相关基因参与了脑损伤、再生的病理、生理过程,另一方面在发育期间高表达的许多有利于轴突生长、突触形成以及一些调节神经细胞分化、迁移的基因,可适当的通过基因工程技术应用到再生中去将有助于脑损伤的修复。脑功能和结构的复杂性,其分子基础是基因表达的复杂性,任何一个脑发育或者损伤事件的分子机制,往往牵涉到多个基因的表达改变。基因芯片技术提供了一个可以同时研究多个基因动态改变的分子生物学平台,上万个基因的改变情况在一次芯片实验中同时被展示出来。本研究以处于视神经发育关键时期的出生前后的小鼠作为发育模型,以左侧眼球摘除作为视神经损伤模型,以正常成年小鼠作为对照,采用高密度发育 cDNA 基因芯片检测、分析了处于视神经发育、损伤不同时期的视神经的第一级投射站——外侧膝状体的发育、损伤相关基因的表达情况,有如下主要发现:一、脑损伤、发育模型的建立:1. 采用小鼠左侧眼球摘除作为视神经损伤的模型,出生前后的小鼠作为视神经发育的模型,出生后 35-60d 的正常小鼠作为对照。2. 采用 GFAP 免疫组化染色观察了小鼠双侧的外侧膝状体在 E15、E18、... 

【文章来源】：中国人民解放军陆军军医大学重庆市

【文章页数】：139 页

【学位级别】：博士

【部分图文】：

Treeview显示的聚类结果图

3. 部分轴突再生相关基因的聚类分析情况：在第二部分的研究中我们已经找到6个已知和轴突生长相关的基因在发育和损有差异表达，其中Blot2045、Blot2520、Blot3981参加了本次聚类分析，对这些进一步的聚类分析的结果如下：（1） Blot2045基因的聚类分析Blot2045的基因聚类图如图3-8所示：00.511.5E15 E18 P0 P7 I1 I7 I14 I21F类图 3-7 F 类基因平均 Ratio 值变化趋势模式图

如图3-9所示：（2） Blot2520的基因聚类分析Blot2520的基因聚类图如图3-10所示：Blot2045同类基因的表达模式012345E15 E18 p0 p7 I1 I7 I14 I21Blot2045图 3-9 Blot2045 聚类同组基因平均 Ratio 值变化趋势模

【参考文献】：
期刊论文
[1]Detection of gene expression pattern in the early stage after spinal cord injury by gene chip[J]. 刘成龙,靳安民,童斌辉.  Chinese Journal of Traumatology. 2003(01)
[2]大鼠中枢神经系统全程连续切片显示神经核团的新方法[J]. 陈德英,蔡文琴,刘建军.  第三军医大学学报. 2001(12)
[3]高密度基因芯片技术及其发展趋势[J]. 陆祖宏.  中国医疗器械信息. 2000(03)
[4]大鼠生后脑星形胶质细胞发育的形态学观察[J]. 邓晓林,蔡文琴.  第三军医大学学报. 1998(02)
[5]星形胶质细胞发育的形态学及眼球摘除后AST反应性改变的实验研究[J]. 邓晓林,蔡文琴.  第三军医大学学报. 1996(04)
[6]中枢神经系损伤后不同时期星形胶质细胞的变化[J]. 冯家笙,徐慧君,武义鸣,田美玲.  解剖学报. 1996(01)



本文编号：3291063