当前位置:主页 > 管理论文 > 成本管理论文 >

半导体测试设备选型研究

发布时间:2021-04-13 23:00
  伴随着经济全球化的发展和市场竞争的加剧,各大企业都面临越来越大的竞争压力。企业的竞争实质上是企业成本的竞争,企业能否生存和发展、能否取得竞争优势,关键在于对成本的管理。设备选型作为设备管理的核心环节,为设备管理创造先决条件,选型得当可提高设备可利用率,降低维持费,以获得寿命周期成本最经济和企业的最大经济效益,提升企业的竞争优势,对设备选型进行全寿命周期管理的研究是成本管理、项目决策和管理理念创新的需要。论文立足半导体测试设备选型,在分析半导体设备选型工作常见问题的基础上,以全生命周期管理理论、系统工程理论和成本收益理论为指导,系统地对半导体测试设备选型的基本原则、操作步骤、评价体系和决策模型做了深入研究,选型方法以寿命周期成本考核为核心,兼顾设备的技术性能、服务保障和社会环境等因素,应用层次分析法把定性指标和定量指标联系起来,对半导体测试设备进行系统全面的评价。 

【文章来源】:苏州大学江苏省

【文章页数】:63 页

【学位级别】:硕士

【部分图文】:

半导体测试设备选型研究


论文框架结构图

测试机,半导体


于使用而制成产品的过程。成品测试工程是参数检查,然后包装出厂,是保证出厂产品做说明为成品测试设备。装测试生产过程中,测试设备占据着举足轻TESTER)和测试分选机(TEST HANDE试机.1)是产品的电性能测试系统,由专业人员的测试程序控制测试机内的资源提供信号和可靠地工作。测试机通过电缆和测试分选机是面向特定类型半导体器件的,这些半导体数字电路、模拟电路和混合信号电路。每种

分选机,半导体,测试机


不同器件的特点设计不同的架构并配置有针对性的不断发展,集成电路内集成的功能越来越丰富测试机的设计正向柔性设计方向发展,即根据不通过更换测试机内的测试资源就可以实现不同体测试分选机(如图 3.2)像机械手一样,把半导体器件传送收测试机的控制,在测试结束后分选机会自动地件分类放置到不同的地方,从而对半导体产品进构不同基本可以分为三大类别。

【参考文献】:
期刊论文
[1]寿命周期成本理论优化设备选型[J]. 李仁凤,赵春友,王子栋.  黑龙江水利科技. 2009(04)
[2]寿命成本理论在设备选型中的应用[J]. 沈琰利.  河北化工. 2008(05)
[3]以设备一生为对象 创建效益型设备管理新模式[J]. 刘长奎.  中国设备工程. 2005(02)
[4]设备更新决策的模糊评价[J]. 王永清.  水利电力机械. 2004(03)
[5]设备管理的历史和发展[J]. 徐滨士.  工程机械与维修. 2002(01)
[6]设备管理理论体系与发展趋势[J]. 赵涛,毛华,刘曙.  工业工程. 2001(02)
[7]市场竞争中的战略工业──对微电子工业的一点认识[J]. 许居衍.  电子展望与决策. 2000(03)

博士论文
[1]清洁能源发电工程项目全寿命周期管理理论和方法研究[D]. 黄奕.华北电力大学(北京) 2010
[2]设备可拓更新理论及方法研究[D]. 谢云臣.吉林大学 2007

硕士论文
[1]全寿命管理理论在变电站建设项目设备选型中的应用研究[D]. 肖杰.华北电力大学(北京) 2010
[2]JN公司设备选型方案的设计与研究[D]. 陈鑫.兰州大学 2010
[3]基于层次分析法和德尔菲法的炼钢用真空设备选型问题研究[D]. 靳雨菲.上海交通大学 2007



本文编号:3136160

资料下载
论文发表

本文链接:https://www.wllwen.com/guanlilunwen/chengbenguanlilunwen/3136160.html


Copyright(c)文论论文网All Rights Reserved | 网站地图 |

版权申明:资料由用户56bf2***提供,本站仅收录摘要或目录,作者需要删除请E-mail邮箱bigeng88@qq.com