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采用异常检测的技术机会识别方法研究

发布时间:2017-11-30 09:14

  本文关键词:采用异常检测的技术机会识别方法研究


  更多相关文章: 技术机会 异常检测 专利 TRIZ


【摘要】:【目的】为探索一种准确而及时地识别技术机会的方法,提出一种基于异常检测技术识别技术机会的框架。【方法】通过构建相似度矩阵进行多维尺度分析,基于多种异常点检测算法识别出潜在技术机会专利,结合TRIZ的技术系统进化法则从潜在技术机会专利中挖掘出技术机会。【结果】获取激光光刻技术2000年 2015年的德温特专利数据,对该领域不同阶段的技术机会进行识别,分析结果显示,通过此框架识别出的前两个阶段的技术机会就是下一阶段的主流技术,同时,改进后的极紫外光刻技术可能成为下一代激光光刻领域的主流技术之一。【局限】利用TRIZ判定技术机会存在一定的主观性,识别准确度有待进一步提高。【结论】基于异常检测的技术机会识别方法可以有效地识别出技术机会,有助于提高识别技术机会的及时性。
【作者单位】: 北京工业大学经济与管理学院;
【分类号】:G306.0
【正文快照】: 1 引言 在科学技术飞速发展的今天,创新能力已经成为衡量企业竞争力的一个重要因素。而作为技术创新的重要基础,技术机会越来越受到企业乃至整个行业的重视,如何尽可能早地发现技术机会,把握正确的技术方向,往往决定了企业未来发展的成败。因此,以技术机会理论为基础,从数据

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