基于负二项回归模型的纳米材料专利质量分析

发布时间：2018-01-06 23:05

  本文关键词：基于负二项回归模型的纳米材料专利质量分析　出处：《科技管理研究》2014年09期 　论文类型：期刊论文

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【摘要】：使用德温特专利库中纳米材料产业的美国专利数据考察在企业的技术创新中科学知识的利用对专利质量是否产生影响,结果显示,企业专利引用科学论文会显著提高专利质量。此研究结果说明纳米领域的技术创新受科学前沿的影响较为直接,促进科学-技术的联系将提高企业的技术影响力。
[Abstract]:Using the US patent data of the nanometer material industry in Derwent patent library, the paper examines whether the use of scientific knowledge in the technological innovation of enterprises has an impact on the quality of patents, and the results show that. Enterprise patent citation of scientific papers will significantly improve the quality of patents. The results show that the nanotechnology innovation is directly affected by the frontier of science. Promoting scientific-technological linkages will increase the technological impact of enterprises.
【作者单位】： 郑州航空工业管理学院;
【基金】：河南省软科学研究计划项目“中原经济区新能源产业升级模式研究”(132400410428) 河南省教育厅人文社会科学研究项目“河南省企业对外直接投资的区域选择与风险评估”(2013-QN-082)
【分类号】：F224;F204;F426
【正文快照】： 知识生产速度的加快以及知识的跨学科整合的趋势,一方面使企业的技术基础受到更大威胁,同时又使企业越来越难以预料威胁来自何方,企业面临的不确定性威胁从偶然现象逐渐发展为无时不在、无处不有,有学者称之为“本体论的不确定性”[1]。企业难以计算在何时、哪个方向、多大投

【共引文献】

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6 吴菲菲;黄鲁成;石媛Z，

本文编号：1389908